Ridgway mark s (25 resultados)
Editorial: Animal Behaviour, 1999
- Tapa blanda
- Primera edición
- Revista/Periódico
Librería: Larry W Price Books, Portland, OR, Estados Unidos de AmericaLarry W Price Books
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- Tapa dura
Librería: Eryops Books, Stephenville, TX, Estados Unidos de AmericaEryops Books
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Idioma: Inglés
Editorial: Heidelberg, Springer, 2015
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Tapa dura
Librería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, AlemaniaAntiquariat Bookfarm
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2014
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Tapa dura
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Taschenbuch. Condición: Neu. X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors | Claudia S. Schnohr (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Optical Sciences | xvi | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9783662522127 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[…at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Schnohr, Claudia S. (Edited by)/ Ridgway, Mark C. (Edited by)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2014
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 2015 edition. 361 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given… they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2014
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given they f…orm the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
- Tapa blanda
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Paperback. Condición: Brand New. reprint edition. 380 pages. 9.25x6.10x0.90 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2014
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2014
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2014
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, 2016
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Editorial: Springer, 2016
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Editorial: Springer Berlin Heidelberg Aug 2016, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of… materials given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research. 380 pp. Englisch.
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Editorial: Springer Berlin Heidelberg Nov 2014, 2014
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materi…als given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research. 380 pp. Englisch.
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Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2014
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Gives a complete survey of the current state of the art of X-ray absorption spectroscopy of semiconductorsProvides an overview of a wide range of semiconductor materialsDisplays comprehensive summaries to allow the re…ader to access the grow.
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Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Editorial: Springer, Springer Aug 2016, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases.Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of mate…rials given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society.The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials.Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 380 pp. Englisch.
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Editorial: Springer, Springer Nov 2014, 2014
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases.Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials g…iven they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society.The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials.Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 380 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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