X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors

Idioma: inglés

Editorial: Springer Berlin Heidelberg Aug 2016, 2016

3662522128 / 9783662522127

Serie: Libro 175 de 235 - Springer Series in Optical Sciences

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research. 380 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9783662522127

Título
X-Ray Absorption Spectroscopy of Semiconductors
Autor
Mark C. Ridgway
Editorial
Springer Berlin Heidelberg Aug 2016
Año de publicación
2016
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
3662522128
ISBN 13
9783662522127
Peso del artículo
575 gramos
Dimensiones
235x155x21 mm
Serie
Libro 175 de 235: Springer Series in Optical Sciences

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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