Josef sikula (13 resultados)

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 118,75
Envío por EUR 3,56Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: New. pp. 380.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 121,50
Envío por EUR 7,68Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: New. pp. 380 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 121,78
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: New. pp. 380.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 349,59
Envío por EUR 13,34Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 349,59
Envío por EUR 13,34Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In English.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 364,43
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Advanced Experimental Methods For Noise Research In Nanoscale Electronic Devices : Proceedings Of The Nato Advanced Research Workshop, Brno, Czech Republic, 2003
Sikula, Josef (EDT); Levinshtein, Michael E. (EDT); NATO Advanced Research Workshop on Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices (2003 : Brno, Czech Republic) (COR)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 374,22
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 350,57
Envío por EUR 29,54Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 389,89
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 358,67
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - A discussion of recently developed experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices, conducted by specialists in transport and stochastic phenomena in nanoscale physics. The approach described is to create methods for experimental observations of noise sources, their localization and their frequency spectrum, voltage-current and thermal dependences. Our current knowledge of measurement methods for mesoscopic devices is summarized to identify directions for future research, related to downscaling effects. The directions for future research into fluctuation phenomena in quantum dot and quantum wire devices are specified. Nanoscale electronic devices will be the basic components for electronics of the 21st century. From this point of view the signal-to-noise ratio is a very important parameter for the device application. Since the noise is also a quality and reliability indicator, experimental methods will have a wide application in the future.…

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 407,78
Envío por EUR 29,54Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

Advanced Experimental Methods For Noise Research In Nanoscale Electronic Devices : Proceedings Of The Nato Advanced Research Workshop, Brno, Czech Republic, 2003
Sikula, Josef (EDT); Levinshtein, Michael E. (EDT); NATO Advanced Research Workshop on Advanced Experimental Methods for Noise Research in Nanoscale Electronic Devices (2003 : Brno, Czech Republic) (COR)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 448,00
Envío por EUR 2,36Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer Jul 2004, 2004
Serie: Libro 136 de 241 - NATO Science Series II: Mathematics, Physics and Chemistry
- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 480,96
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. Neuware - A discussion of recently developed experimental methods for noise research in nanoscale electronic devices, conducted by specialists in transport and stochastic phenomena in nanoscale physics. The approach described is to create methods for experimental observations of noise sources, their localization and their frequency spectrum, voltage-current and thermal dependences. Our current knowledge of measurement methods for mesoscopic devices is summarized to identify directions for future research, related to downscaling effects. The directions for future research into fluctuation phenomena in quantum dot and quantum wire devices are specified. Nanoscale electronic devices will be the basic components for electronics of the 21st century. From this point of view the signal-to-noise ratio is a very important parameter for the device application. Since the noise is also a quality and reliability indicator, experimental methods will have a wide application in the future.…