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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Plenum Press, 1989

    0306432366 / 9780306432361

    • Tapa dura

    Librería: BookDepart, Shepherdstown, WV, Estados Unidos de AmericaBookDepart

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    Hardcover. Condición: Very Good. Hardcover; Volume 32 only; proceedings of the 37th annual conference on App lications of X-Ray Analysis, held August 1-5, 1988, in Steamboat Springs, C olorado; light fading and shelf wear to exterior; former owner's stamping o n front endpaper; a few small spots at top page edge; in very good co

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

    • Tapa dura

    Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

    • Tapa dura

    Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International

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    hardcover. Condición: Very Good. Plenum Press, NY c.1991, 8vo. cloth, 743pp. F/F $.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

    • Tapa dura

    Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de AmericaSMASS Sellers

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    1461365325 / 9781461365327

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    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer 2012-11, 2012

    1461365325 / 9781461365327

    • Tapa blanda

    Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

    • Tapa dura

    Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    1461365325 / 9781461365327

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    146139998X / 9781461399988

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1998

    0306458039 / 9780306458033

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

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    Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2012

    1461365325 / 9781461365327

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    Taschenbuch. Condición: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 35B | C. S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | iv | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461365327 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, Springer, 2012

    1461365325 / 9781461365327

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    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD I

  • Idioma: Inglés

    Editorial: SP SPRINGER, 1997

    0306458039 / 9780306458033

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    Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino UnidoUK BOOKS STORE

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, Berlin, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

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    Gebunden. Condición: New. Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrument.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer Okt 1992, 1992

    0306442493 / 9780306442490

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    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    Buch. Condición: Neu. Neuware - Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Material

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2013

    1475791127 / 9781475791129

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1989

    0306432366 / 9780306432361

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  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2013

    1475791127 / 9781475791129

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    Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

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    Taschenbuch. Condición: Neu. Advances in X-Ray Analysis | Volume 32 | Charles S. Barrett (u. a.) | Taschenbuch | xxvi | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9781475791129 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2013

    1475791127 / 9781475791129

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    Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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    EUR 291,27

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    Condición: New. pp. 708.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1989

    0306432366 / 9780306432361

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    Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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    EUR 292,63

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    Cantidad disponible: 4 disponibles

    Condición: New. pp. 712.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, Springer, 2013

    1475791127 / 9781475791129

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    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    EUR 225,03

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    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 37th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 1-5, 1988, at the Sheraton Steamboat Resort and Conference Center, Steamboat Springs, Colorado. As usual, alternating with x-ray diffraction, the emphasis this year

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer US, Springer New York, 1989

    0306432366 / 9780306432361

    • Tapa dura

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

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    EUR 225,03

    Envío por EUR 67,56 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponibles

    Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - The 37th Annual Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis was held August 1-5, 1988, at the Sheraton Steamboat Resort and Conference Center, Steamboat Springs, Colorado. As usual, alternating with x-ray diffraction, the emphasis this year was x-

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2013

    1475791127 / 9781475791129

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    Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

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    Paperback. Condición: Brand New. reprint edition. 708 pages. 10.00x7.01x1.60 inches. In Stock.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 1989

    0306432366 / 9780306432361

    • Tapa dura

    Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

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    EUR 315,24

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    Hardcover. Condición: Like New. Like New. book.