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Integrated Circuit Manufacturability
Idioma: Inglés
Publicado por Standard Publishers Distributors, 2000
ISBN 10: 8186308733 ISBN 13: 9788186308738
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 8,36
Envío por EUR 7,50
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 316.
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Integrated Circuit Manufacturability
Idioma: Inglés
Publicado por Standard Publishers Distributors, 2000
ISBN 10: 8186308733 ISBN 13: 9788186308738
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 14,28
Envío por EUR 3,42
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 316 Index 1st Indian Edition.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Patrico Books, Apollo Beach, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 15,03
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Integrated Circuit Manufacturability
Idioma: Inglés
Publicado por Standard Publishers Distributors, 2000
ISBN 10: 8186308733 ISBN 13: 9788186308738
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 8,63
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 35,23
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Añadir al carritoCondición: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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Integrated Circuit Manufacturability: The Art of Process and Design Integration
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 32,71
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Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,900grams, ISBN:9780780334472.
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Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,19
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Librería: thebookforest.com, San Rafael, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Ejemplar firmado
EUR 61,31
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 66,29
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity Theory And Computational Models
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 73,85
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,37
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,37
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Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,35
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 76,27
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 313 Softcover reprint of the original 1st ed. 2011 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 79,72
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Integrated Circuit Manufacturability: The Art of Process and Design Integration
Librería: GoldBooks, Denver, CO, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,05
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INTEGRATED CIRCUIT MANUFACTURABILITY: THE ART OF PROCESS AND DESIGN INTEGRATION
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,08
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 208)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,13
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Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,70
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 102,20
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 130,59
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity : Theory and Computational Models
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,12
Envío por EUR 17,31
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Low-power High-resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,74
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 141,87
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 196.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Idioma: Inglés
Publicado por Kluwer Academic Publishers, 1992
ISBN 10: 0792393066 ISBN 13: 9780792393061
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,95
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Añadir al carritoCondición: New. Spot defects are random phenomena present in every fabrication line. As technological processes mature towards submicron features, the effect of these defects on the functional and parametric behavior of the IC becomes crucial. This title reviews the importance of a defect-sensitivity analysis in contemporary VLSI design procedures. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 167 pages, 48 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1000. . 1992. Hardback. . . . .
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Integrated Circuit Manufacturability : The Art of Process and Design Integration
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,01
Envío por EUR 105,00
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Añadir al carritoCondición: Gut. Zustand: Gut | Seiten: 336 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Electrical Engineering Integrated Circuit Manufacturability The Art of Process and Design Integration Integrated Circuit Manufacturability provides comprehensive coverage of the process and design variables that determine the ease and feasibility of the fabrication (or manufacturability) of contemporary VLSI systems and circuits. This book progresses from semiconductor processing to electrical design to system architecture. The material provides a theoretical background as well as case studies, examining the entire design for the manufacturing path from circuit to silicon. Each chapter includes tutorial and practical applications coverage. Integrated Circuit Manufacturability illustrates the implications of manufacturability at every level of abstraction, including the effects of defects on the layout, their mapping to electrical faults, and the corresponding approaches to detect such faults. The reader will be introduced to key practical issues normally applied in industry and usually required by quality, product, and design engineering departments in today's design practices: Yield management strategies Effects of spot defects Inductive fault analysis and testing Fault-tolerant architectures and MCM testing strategies This book will serve design and product engineers both from academia and industry. It can also be used as a reference or textbook for introductory graduate-level courses on manufacturing.
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Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters: Design, Test and Calibration (Analog Circuits and Signal Processing)
Libro 25 de 124: Analog Circuits and Signal ProcessingLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 130,72
Envío por EUR 28,84
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 150,58
Envío por EUR 11,54
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 191 pages. 9.30x6.20x0.50 inches. In Stock.
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Integrated Circuit Manufacturability
Idioma: Inglés
Publicado por IEEE Operations Center, 1998
ISBN 10: 0780334477 ISBN 13: 9780780334472
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 159,41
Envío por EUR 3,42
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic TestingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 162,88
Envío por EUR 3,42
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 352 2nd Edition.
