Gyvez (76 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 52,34
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Condición: New.
- Tapa dura
- Firmado
Librería: thebookforest.com, San Rafael, CA, Estados Unidos de Americathebookforest.com
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EUR 50,74
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Condición: Very Good. Signed by author on title page. Text block firm and clean, binding unblemished, boards straight, without highlights or underlining. Well packaged and promptly shipped from California. Partnered with Friends of the Library since 2010.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa blanda
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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EUR 60,52
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Condición: Brand New. New. Delivery takes 25-30 days. Excellent Customer Service.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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EUR 60,52
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Condición: Brand New. New. Delivery takes 25-30 days. Excellent Customer Service.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa blanda
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 60,55
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Condición: New.
- Tapa dura
Librería: BOOKWEST, Phoenix, AZ, Estados Unidos de AmericaBOOKWEST
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EUR 66,77
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Hardcover. Condición: New. US SELLER SHIPS FAST FROM USA.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de AmericaSolr Books
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EUR 66,77
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Condición: very_good. This book is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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EUR 73,89
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Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 61,21
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 61,21
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 61,19
Envío por EUR 17,55Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 77,27
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Condición: New. pp. 313 Softcover reprint of the original 1st ed. 2011 edition NO-PA16APR2015-KAP.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 80,65
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Condición: New. pp. 316.
- Tapa blanda
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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EUR 98,38
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Condición: Brand New. New. Delivery takes 25-30 days. Excellent Customer Service.
- Tapa dura
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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EUR 98,38
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- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 116,74
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Condición: New. In.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 116,74
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Condición: New. In.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 116,72
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Condición: New.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 132,27
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 121,68
Envío por EUR 17,55Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 110,85
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 112,06
Envío por EUR 29,25Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2016
Serie: Libro 25 de 124 - Analog Circuits and Signal Processing
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 143,18
Envío por EUR 2,28Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 132,95
Envío por EUR 9,50Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New. Spot defects are random phenomena present in every fabrication line. As technological processes mature towards submicron features, the effect of these defects on the functional and parametric behavior of the IC becomes crucial. This title reviews the importance of a defect-sensitivity analysis in contemporary VLS…I design procedures. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 167 pages, 48 black & white illustrations, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD. Category: (P) Professional & Vocational; (UP) Postgraduate, Research & Scholarly. Dimension: 234 x 156 x 12. Weight in Grams: 1000. . 1992. Hardback. . . . .
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 143,92
Envío por EUR 3,45Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 196.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 2007
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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EUR 45,51
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 352 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrat…ed circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 151,67
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Paperback. Condición: Brand New. 191 pages. 9.30x6.20x0.50 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 150,60
Envío por EUR 17,55Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 165,95
Envío por EUR 3,45Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. pp. 352 2nd Edition.
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 140,98
Envío por EUR 29,25Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
