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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 39,02
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Integration of functional oxides with semiconductors.
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsIdioma: Inglés
Publicado por New York/Heidelberg/Dordrecht, Springer., 2014
ISBN 10: 1461493196 ISBN 13: 9781461493198
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 16,00
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Añadir al carrito24 cm. X, 278 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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Variational principles in the theory of collisions.
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford, Pergamon Press, 1963
Librería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 7,09
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 35,04
Envío por EUR 13,73
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Añadir al carritoCondición: New. In.
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Cmos GateStack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press 2014-06-05, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 32,78
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Variational principles in the theory of collisions.
Publicado por Oxford, Pergamon Press, ,, 1963
Librería: Antiquariat Gothow & Motzke, Berlin, Alemania
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 24,00
Envío por EUR 9,95
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Añadir al carritoX/157 S./pp., Originalpappband (publisher's cardboard covers), Bibliotheksexemplar in sehr gutem Zustand / exlibrary in excellent condition (Stempel auf Titel / title stamped, Rückenschildchen / lettering pannel to the spine, Block sehr gut / contents fine, keine Unterstreichungen oder Anstreichungen / no underlining or remarks, nicht in Folie eingeschlagen / not wrapped up in foil), Sprache: englisch.
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Cmos GateStack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 42,04
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press CUP, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 52,27
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 194.
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Variational Principles in the Theory of Collisions
Idioma: Inglés
Publicado por Macmillan Company, NY, 1963
Librería: Dorley House Books, Inc., Hagerstown, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 48,78
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. No Jacket. 1st. 1st American edition; navy c w/gilt titles; moderate shelf rubbing; ownr's name; 157 clean, unmarked pages.
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Cmos GateStack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,14
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Zero-Range Potentials and Their Applications in Atomic Physics (Physics of Atoms and Molecules)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 59,52
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Zero-Range Potentials and Their Applications in Atomic Physics (Physics of Atoms and Molecules)
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US 1988-01-01, 1988
ISBN 10: 1468454536 ISBN 13: 9781468454536
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 56,43
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Integration Of Functional Oxides With Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 76,60
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Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Zero-Range Potentials and Their Applications in Atomic Physics
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 80,06
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 300.
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Zero-Range Potentials and Their Applications in Atomic Physics
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 90,14
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 296.
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Zero-Range Potentials and Their Applications in Atomic Physics
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 78,74
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 296 pages. 10.00x7.00x0.68 inches. In Stock.
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Zero-Range Potentials and Their Applications in Atomic Physics
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 88,63
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 296.
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 94,78
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Añadir al carritoCondición: Used. pp. 290.
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 93,59
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Used. pp. 290 146 Illus. (113 Col.).
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 95,93
Envío por EUR 9,95
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Añadir al carritoCondición: Used. pp. 290.
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Volume 1155
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,56
Envío por EUR 61,45
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
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Zero-Range Potentials and Their Applications in Atomic Physics
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,25
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Zero-Range Potentials and Their Applications in Atomic Physics | Yu. N. Demkov (u. a.) | Taschenbuch | Physics of Atoms and Molecules | 296 S. | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781468454536 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,70
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 125,05
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors (Springerbriefs in Materials)
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,49
Envío por EUR 13,73
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 118,30
Envío por EUR 13,73
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 118,29
Envío por EUR 17,19
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Zero-Range Potentials and Their Applications in Atomic Physics (Physics of Atoms and Molecules)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 108,59
Envío por EUR 28,65
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,36
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 194 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . .
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Edición internacionalZERO RANGE POTENTIALS AND THEIR APPLICATIONS IN ATOMIC PHYSICS (PHYSICS OF ATOMS AND MOLECULES)(HB 1988)
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 145,62
Envío por EUR 6,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Brand New ! Fast Delivery "International Edition " and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 4-6 Working days .and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
