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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 39,02
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Integration of functional oxides with semiconductors.
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsIdioma: Inglés
Publicado por New York/Heidelberg/Dordrecht, Springer., 2014
ISBN 10: 1461493196 ISBN 13: 9781461493198
Librería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 16,00
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Añadir al carrito24 cm. X, 278 p. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 35,04
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Cmos GateStack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press 2014-06-05, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 32,78
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Cmos GateStack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 42,04
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Cmos Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press CUP, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 52,27
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 194.
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Cmos GateStack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,14
Envío por EUR 9,04
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Integration Of Functional Oxides With Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 76,60
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Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 94,78
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Añadir al carritoCondición: Used. pp. 290.
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 93,59
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 95,93
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CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Volume 1155
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2014
ISBN 10: 1107408326 ISBN 13: 9781107408326
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,56
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - To address the increasing demands of device scaling, new materials are being introduced into conventional Si CMOS processing at an unprecedented rate. Presentations collected here focus on understanding, from a chemistry and materials perspective, the mechanism of interface formation and defects at interfaces, for both conventional Si and alternative channel (Ge or III-V) systems. Several papers address reliability concerns for high-k/metal gate (basic physical models, charge trapping, etc.), while others cover characterization of the thin films and interfaces which comprise the gate stack. Topics include: advanced Si-based gate stacks; and alternate channel materials.
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 122,70
Envío por EUR 2,27
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 125,05
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors (Springerbriefs in Materials)
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,49
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CMOS Gate-Stack Scaling ? Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 118,30
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 118,29
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,36
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Añadir al carritoCondición: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 194 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . .
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors (Springerbriefs in Materials)
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 128,66
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Cmos Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 164,84
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Añadir al carritoCondición: New. pp. viii + 179.
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Integration of Functional Oxides With Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 153,60
Envío por EUR 14,33
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 278 pages. 9.75x6.50x0.75 inches. In Stock.
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors (Springerbriefs in Materials)
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,54
Envío por EUR 11,46
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 288 pages. 9.25x6.10x0.68 inches. In Stock.
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Integration of Functional Oxides with Semiconductors
Libro 13 de 68: SpringerBriefs in MaterialsLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,15
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Integration of Functional Oxides with Semiconductors | Alexander A. Demkov (u. a.) | Taschenbuch | x | Englisch | 2016 | Springer | EAN 9781493941698 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications: Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.: Vol 1155
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,68
Envío por EUR 11,46
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 194 pages. 9.13x6.30x0.79 inches. In Stock.
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,98
Envío por EUR 17,19
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Cmos Gate-stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
Idioma: Inglés
Publicado por Materials Research Society, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 169,40
Envío por EUR 9,04
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners. Editor(s): Demkov, Alexander A. (Freescale Semiconductor Inc., Austin, Texas); Taylor, Bill; Harris, H. Rusty; Butterbaugh, Jeffery W.; Rachmady, Willy. Series: MRS Proceedings. Num Pages: 194 pages, Illustrations. BIC Classification: TGM. Category: (U) Tertiary Education (US: College). Dimension: 228 x 152 x 13. Weight in Grams: 430. . 2009. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Materials Fundamentals of Gate Dielectrics
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 161,46
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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CMOS Gate-Stack Scaling - Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 (MRS Proceedings)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 147,55
Envío por EUR 28,65
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Materials Fundamentals of Gate Dielectrics
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 178,32
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Cmos Gate-stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications : Symposium Held April 14-16, 2009, San Francisco, California, U.s.a.
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2009
ISBN 10: 1605111287 ISBN 13: 9781605111285
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 179,39
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
