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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.
Publicado por Springer, 2007
Idioma: Inglés
Librería: Antiquariat Thomas Haker GmbH & Co. KG, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 27,30
Convertir monedaEUR 14,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Wie neu. 778 S., Like new. Shrink wrapped. / Wie neu. In Folie verschweißt. Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1355 3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Librería: Studibuch, Stuttgart, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 47,96
Convertir monedaEUR 17,90 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Befriedigend. 778 Seiten; 9783540738855.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials: With numerous exercises
Librería: Studibuch, Stuttgart, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 48,15
Convertir monedaEUR 17,90 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Gut. 778 Seiten; 9783540738855.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Librería: Studibuch, Stuttgart, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,55
Convertir monedaEUR 17,90 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Befriedigend. 767 Seiten; 9783540678410.4 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)
Librería: Studibuch, Stuttgart, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 55,90
Convertir monedaEUR 17,90 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Gut. 767 Seiten; 9783540678410.3 Gewicht in Gramm: 2.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,33
Convertir monedaEUR 18,94 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Good. Used book that is in clean, average condition without any missing pages.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 87,95
Convertir monedaEUR 5,17 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 88,18
Convertir monedaEUR 17,27 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10: 3642433154 ISBN 13: 9783642433153
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,94
Convertir monedaEUR 11,99 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,80
Convertir monedaEUR 17,15 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,76
Convertir monedaEUR 6,86 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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![Imagen de archivo de Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. a la venta por BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer](https://pictures.abebooks.com/isbn/9783540738855-es-300.jpg)
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials [Englisch] [Gebundene Ausgabe] Brent Fultz (Autor), James Howe (Autor) This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
Publicado por Springer Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009, 2008
ISBN 10: 3540738851 ISBN 13: 9783540738855
Idioma: Inglés
Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 109,00
Convertir monedaEUR 14,95 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: gut. This hugely successful and highly acclaimed text is designed to meet the needs of materials scientists at all levels. In this third edition readers get a fully updated and revised text, too. Fultz and Howe explain concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The edition has been updated to cover important technical developments, including the remarkable recent improvement in resolution of the TEM, and all chapters have been updated and revised for clarity. A new chapter on high resolution STEM methods has been added. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises. In englischer Sprache. 758 pages. 3,3 x 16 x 23,3 cm Auflage: 3rd ed. 2008. Corr. 2nd printing 2009.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 123,54
Convertir monedaEUR 5,17 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Nov 2014, 2014
ISBN 10: 3642433154 ISBN 13: 9783642433153
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,94
Convertir monedaEUR 35,00 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware -This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 784 pp. Englisch.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,97
Convertir monedaEUR 6,86 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10: 3642297609 ISBN 13: 9783642297601
Idioma: Inglés
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,39
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 119,84
Convertir monedaEUR 28,80 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,54
Convertir monedaEUR 17,15 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 123,39
Convertir monedaEUR 28,80 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 129,33
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,61
Convertir monedaEUR 64,34 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, Springer Berlin Heidelberg Okt 2012, 2012
ISBN 10: 3642297609 ISBN 13: 9783642297601
Idioma: Inglés
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 128,39
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware -This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. The fourth edition adds important new techniques of TEM such as electron tomography, nanobeam diffraction, and geometric phase analysis. A new chapter on neutron scattering completes the trio of x-ray, electron and neutron diffraction. All chapters were updated and revised for clarity. The book explains the fundamentals of how waves and wavefunctions interact with atoms in solids, and the similarities and differences of using x-rays, electrons, or neutrons for diffraction measurements. Diffraction effects of crystalline order, defects, and disorder in materials are explained in detail. Both practical and theoretical issues are covered. The book can be used in an introductory-level or advanced-level course, since sections are identified by difficulty. Each chapter includes a set of problems to illustrate principles, and the extensive Appendix includes laboratory exercises.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 784 pp. Englisch.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,75
Convertir monedaEUR 17,15 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Librería: brandnewtexts4sale, Houston, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,51
Convertir monedaEUR 60,05 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New. 3rd Edition. 100% BRAND NEW US HARDCOVER STUDENT 3rd Edition / shrink wrapped / Mint condition / ISBN-10: 3540738851 / Shipped out in one business day with free tracking.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 137,52
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Añadir al carritoCondición: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Graduate Texts in Physics)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 194,58
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 228,04
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2014
ISBN 10: 3642433154 ISBN 13: 9783642433153
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 77,17
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. New edition of successful, well-reviewed textbook Provides an integrated coverage of transmission electron microscopy and x-ray diffractometry Shows how wave radiation probes the structure of materials Supports learning and teaching .
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Publicado por Springer Berlin Heidelberg Nov 2014, 2014
ISBN 10: 3642433154 ISBN 13: 9783642433153
Idioma: Inglés
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,94
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Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2012
ISBN 10: 3642297609 ISBN 13: 9783642297601
Idioma: Inglés
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 107,09
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