Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)

Fultz, Brent und M. Howe James:

ISBN 10: 3540678417 ISBN 13: 9783540678410

Editorial: Springer, 2001

Idioma: Ingl�s

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767 Seiten; 9783540678410.3 Gewicht in Gramm: 2.

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Detalles bibliogr�ficos

T�tulo

Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials (Advanced Texts in Physics)

Editor

Springer

Fecha de publicaci�n

2001

Idioma

Ingl�s

ISBN 10

3540678417

ISBN 13

9783540678410

Encuadernaci�n

hardcover

Estado

Gut

Peso

2 gramos

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Sinopsis

This book teaches graduate students the concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. It emphasizes themes common to both techniques, such as wave coherence, scattering from atoms, and the formation and analysis of diffraction patterns. It also describes unique aspects of each technique, especially spectroscopy, conventional imaging, and high-resolution imaging in the TEM. The textbook thoroughly develops both introductory and advanced-level material, using over 400 accompanying illustrations. Both practical and theoretical issues are explained in detail. The book can be used as an introductory-level or an advanced-level graduate text since sections/chapters are sorted according to difficulty and grouped for use in quarter and semester courses on TEM and XRD. The appendix provides a set of introductory TEM laboratory exercises, and contains up-to-date reference data for both TEM and XRD.

Rese�a del editor

This text covers the concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials. It emphasizes themes common to both techniques, such as scattering from atoms and the formation and analysis of diffraction patterns. It also describes unique aspects of each technique, especially imaging and spectroscopy in the TEM. The textbook thoroughly develops both introductory and advanced-level material, using over 400 accompanying illustrations. Problems are provided at the end of each chapter to reinforce key concepts. Simple citatioins of rules are avoided as much as possible, and both practical and theoretical issues are explained in detail.

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