Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials

Fultz, B., Howe, James M., Fultz, Brent

ISBN 10: 3540678417 ISBN 13: 9783540678410
Editorial: Springer Verlag, 2001
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa dura

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