Support vector machines pattern (58 resultados)

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Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Paperback or Softback. Condición: New. Pattern Recognition with Support Vector Machines: First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings. Book.

Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, DE, 2002
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Paperback. Condición: New. 2002 ed. With their introduction in 1995, Support Vector Machines (SVMs) marked the beginningofanewerainthelearningfromexamplesparadigm.Rootedinthe Statistical Learning Theory developed by Vladimir Vapnik at ATandT, SVMs quickly gained attention from the pattern recognition community due to a n- beroftheoreticalandcomputationalmerits.Theseinclude,forexample,the simple geometrical interpretation of the margin, uniqueness of the solution, s- tistical robustness of the loss function, modularity of the kernel function, and over?t control through the choice of a single regularization parameter. Like all really good and far reaching ideas, SVMs raised a number of - terestingproblemsforboththeoreticiansandpractitioners.Newapproachesto Statistical Learning Theory are under development and new and more e?cient methods for computing SVM with a large number of examples are being studied. Being interested in the development of trainable systems ourselves, we decided to organize an international workshop as a satellite event of the 16th Inter- tional Conference on Pattern Recognition emphasizing the practical impact and relevance of SVMs for pattern recognition.By March 2002, a total of 57 full papers had been submitted from 21 co- tries.Toensurethehighqualityofworkshopandproceedings,theprogramc- mitteeselectedandaccepted30ofthemafterathoroughreviewprocess.Ofthese papers16werepresentedin4oralsessionsand14inapostersession.Thepapers span a variety of topics in pattern recognition with SVMs from computational theoriestotheirimplementations.Inadditiontotheseexcellentpresentations, there were two invited papers by Sayan Mukherjee, MIT and Yoshua Bengio, University of Montreal.…

Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Condición: New. pp. 525.

Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Condición: New.

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Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.

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Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.

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Condición: New. In English.

Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Condición: New.

Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 79,46
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Condición: New. pp. 525 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.

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- Primera edición
Librería: Corner of a Foreign Field, Tokyo, TOKYO, JaponCorner of a Foreign Field
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EUR 73,43
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Hardcover. Condición: Fine. No Jacket. 1st Edition. 2006.Hardcover.Fine.343 pages.Ships from Japan.Usually ships in 1-2 working days.

Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Condición: New. pp. 525.

Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 84,45
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 66,40
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Invited Papers.- Predicting Signal Peptides with Support Vector Machines.- Scaling Large Learning Problems with Hard Parallel Mixtures.- Computational Issues.- On the Generalization of Kernel Machines.- Kernel Whitening for One-Class Classification.- A Fast SVM Training Algorithm.- Support Vector Machines with Embedded Reject Option.- Object Recognition.- Image Kernels.- Combining Color and Shape Information for Appearance-Based Object Recognition Using Ultrametric Spin Glass-Markov Random Fields.- Maintenance Training of Electric Power Facilities Using Object Recognition by SVM.- Kerneltron: Support Vector 'Machine' in Silicon.- Pattern Recognition.- Advances in Component-Based Face Detection.- Support Vector Learning for Gender Classification Using Audio and Visual Cues: A Comparison.- Analysis of Nonstationary Time Series Using Support Vector Machines.- Recognition of Consonant-Vowel (CV) Units of Speech in a Broadcast News Corpus Using Support Vector Machines.- Applications.- Anomaly Detection Enhanced Classification in Computer Intrusion Detection.- Sparse Correlation Kernel Analysis and Evolutionary Algorithm-Based Modeling of the Sensory Activity within the Rat's Barrel Cortex.- Applications of Support Vector Machines for Pattern Recognition: A Survey.- Typhoon Analysis and Data Mining with Kernel Methods.- Poster Papers.- Support Vector Features and the Role of Dimensionality in Face Authentication.- Face Detection Based on Cost-Sensitive Support Vector Machines.- Real-Time Pedestrian Detection Using Support Vector Machines.- Forward Decoding Kernel Machines: A Hybrid HMM/SVM Approach to Sequence Recognition.- Color Texture-Based Object Detection: An Application to License Plate Localization.- Support Vector Machines in Relational Databases.- Multi-ClassSVM Classifier Based on Pairwise Coupling.- Face Recognition Using Component-Based SVM Classification and Morphable Models.- A New Cache Replacement Algorithm in SMO.- Optimization of the SVM Kernels Using an Empirical Error Minimization Scheme.- Face Detection Based on Support Vector Machines.- Detecting Windows in City Scenes.- Support Vector Machine Ensemble with Bagging.- A Comparative Study of Polynomial Kernel SVM Applied to Appearance-Based Object Recognition.…

- Tapa dura
Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 105,36
Envío por EUR 3,56Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: Used. pp. xiv + 343 1st Edition.

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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 106,75
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: Used. pp. xiv + 343.

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Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de AmericaBennettBooksLtd
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Envío por EUR 6,19Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, DE, 2002
- Tapa blanda
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EUR 68,44
Envío por EUR 77,64Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Paperback. Condición: New. 2002 ed. With their introduction in 1995, Support Vector Machines (SVMs) marked the beginningofanewerainthelearningfromexamplesparadigm.Rootedinthe Statistical Learning Theory developed by Vladimir Vapnik at ATandT, SVMs quickly gained attention from the pattern recognition community due to a n- beroftheoreticalandcomputationalmerits.Theseinclude,forexample,the simple geometrical interpretation of the margin, uniqueness of the solution, s- tistical robustness of the loss function, modularity of the kernel function, and over?t control through the choice of a single regularization parameter. Like all really good and far reaching ideas, SVMs raised a number of - terestingproblemsforboththeoreticiansandpractitioners.Newapproachesto Statistical Learning Theory are under development and new and more e?cient methods for computing SVM with a large number of examples are being studied. Being interested in the development of trainable systems ourselves, we decided to organize an international workshop as a satellite event of the 16th Inter- tional Conference on Pattern Recognition emphasizing the practical impact and relevance of SVMs for pattern recognition.By March 2002, a total of 57 full papers had been submitted from 21 co- tries.Toensurethehighqualityofworkshopandproceedings,theprogramc- mitteeselectedandaccepted30ofthemafterathoroughreviewprocess.Ofthese papers16werepresentedin4oralsessionsand14inapostersession.Thepapers span a variety of topics in pattern recognition with SVMs from computational theoriestotheirimplementations.Inadditiontotheseexcellentpresentations, there were two invited papers by Sayan Mukherjee, MIT and Yoshua Bengio, University of Montreal.…

Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC 2014-11-14, 2014
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Tapa dura
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
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EUR 141,92
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 171,83
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 187,88
Envío por EUR 2,35Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.

Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 191,60
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 191,60
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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EUR 192,94
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Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Tapa dura
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 194,60
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Condición: New.