Support vector machines pattern (57 resultados)
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Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Paperback or Softback. Condición: New. Pattern Recognition with Support Vector Machines: First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings. Book.
Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH and Co. KG, DE, 2002
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Paperback. Condición: New. 2002 ed. With their introduction in 1995, Support Vector Machines (SVMs) marked the beginningofanewerainthelearningfromexamplesparadigm.Rootedinthe Statistical Learning Theory developed by Vladimir Vapnik at ATandT, SVMs quickly gained attention from the pattern recognition community due to a n- beroft…heoreticalandcomputationalmerits.Theseinclude,forexample,the simple geometrical interpretation of the margin, uniqueness of the solution, s- tistical robustness of the loss function, modularity of the kernel function, and over?t control through the choice of a single regularization parameter. Like all really good and far reaching ideas, SVMs raised a number of - terestingproblemsforboththeoreticiansandpractitioners.Newapproachesto Statistical Learning Theory are under development and new and more e?cient methods for computing SVM with a large number of examples are being studied. Being interested in the development of trainable systems ourselves, we decided to organize an international workshop as a satellite event of the 16th Inter- tional Conference on Pattern Recognition emphasizing the practical impact and relevance of SVMs for pattern recognition.By March 2002, a total of 57 full papers had been submitted from 21 co- tries.Toensurethehighqualityofworkshopandproceedings,theprogramc- mitteeselectedandaccepted30ofthemafterathoroughreviewprocess.Ofthese papers16werepresentedin4oralsessionsand14inapostersession.Thepapers span a variety of topics in pattern recognition with SVMs from computational theoriestotheirimplementations.Inadditiontotheseexcellentpresentations, there were two invited papers by Sayan Mukherjee, MIT and Yoshua Bengio, University of Montreal.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Condición: New. pp. 525.
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Condición: New. In.
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Paperback. Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Condición: New. pp. 525 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Condición: New.
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Condición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Condición: New.
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- Primera edición
Librería: Corner of a Foreign Field, Tokyo, TOKYO, JaponCorner of a Foreign Field
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Hardcover. Condición: Fine. No Jacket. 1st Edition. 2006.Hardcover.Fine.343 pages.Ships from Japan.Usually ships in 1-2 working days.
Pattern Recognition With Support Vector Machines : First International Workshop, Svm 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002 : Proceedings
Svm 200 (2002 Niagara Falls, Ont.); Verri, Alessandro (EDT); Lee, Seong-Whan (EDT)
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2020
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Condición: New. In.
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Condición: Used. pp. xiv + 343 1st Edition.
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Condición: Used. pp. xiv + 343.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - With their introduction in 1995, Support Vector Machines (SVMs) marked the beginningofanewerainthelearningfromexamplesparadigm.Rootedinthe Statistical Learning Theory developed by Vladimir Vapnik at AT&T, SVMs quickly gained attention from the patt…ern recognition community due to a n- beroftheoreticalandcomputationalmerits.Theseinclude,forexample,the simple geometrical interpretation of the margin, uniqueness of the solution, s- tistical robustness of the loss function, modularity of the kernel function, and over t control through the choice of a single regularization parameter. Like all really good and far reaching ideas, SVMs raised a number of - terestingproblemsforboththeoreticiansandpractitioners.Newapproachesto Statistical Learning Theory are under development and new and more e cient methods for computing SVM with a large number of examples are being studied. Being interested in the development of trainable systems ourselves, we decided to organize an international workshop as a satellite event of the 16th Inter- tional Conference on Pattern Recognition emphasizing the practical impact and relevance of SVMs for pattern recognition. By March 2002, a total of 57 full papers had been submitted from 21 co- tries.Toensurethehighqualityofworkshopandproceedings,theprogramc- mitteeselectedandaccepted30ofthemafterathoroughreviewprocess.Ofthese papers16werepresentedin4oralsessionsand14inapostersession.Thepapers span a variety of topics in pattern recognition with SVMs from computational theoriestotheirimplementations.Inadditiontotheseexcellentpresentations, there were two invited papers by Sayan Mukherjee, MIT and Yoshua Bengio, University of Montreal.
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Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de AmericaBennettBooksLtd
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Hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
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Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
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Paperback. Condición: New. 2002nd.
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 150,55
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Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 165,99
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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EUR 183,27
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Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 188,63
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Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2014
Serie: Libro 7 de 15 - Chapman & Hall/Crc Machine Learning & Pattern Recognition
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 179,11
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer London Ltd, GB, 2010
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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EUR 212,14
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Hardback. Condición: New. 2nd ed. 2010. Support Vector Machines are popular because of their high classification importance; this is the first book to focus the discussions on SVMs specifically to pattern classification.
Más imágenesIdioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 13 de 86 - Advances in Computer Vision and Pattern Recognition
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 140,10
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Taschenbuch. Condición: Neu. Support Vector Machines for Pattern Classification | Shigeo Abe | Taschenbuch | Advances in Computer Vision and Pattern Recognition | xx | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781447125488 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartman…n[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
