Failure analysis integrated circuits (32 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Taschenbuch. Condición: Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Taschenbuch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461372318 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 1…7, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Condición: New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Edito…r(s): Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . .
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Condición: gut. 1999. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494) In englischer Sprache. pages.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in in…tegrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrate…d circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Condición: New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Edito…r(s): Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer US Nov 2012, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root…cause of electrical failures in integrated circuits. 272 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US Jan 1999, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause o…f electrical failures in integrated circuits. 276 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This must have reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understand…ing the root cause of electrical fa.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Editorial: Springer, 1999
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Buch. Condición: Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Buch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 1999 | Springer | EAN 9780412145612 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heide…lberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu Print on Demand.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer Jan 1999, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
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Envío por EUR 60,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures…in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 276 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Springer Nov 2012, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical fa…ilures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique.Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 272 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2012
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Condición: New. Print on Demand pp. 272 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 1999
Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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