Failure Analysis of Integrated Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer US Jan 1999, 1999

0412145618 / 9780412145612

Serie: Libro 195 de 260 - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This 'must have' reference work for semiconductor professionals and researchers provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. 276 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9780412145612

Título
Failure Analysis of Integrated Circuits
Autor
Lawrence C. Wagner
Editorial
Springer US Jan 1999
Año de publicación
1999
Estado
Neu
Encuadernación
Buch
Idioma
inglés
ISBN 10
0412145618
ISBN 13
9780412145612
Peso del artículo
582 gramos
Dimensiones
241x160x20 mm
Serie
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

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