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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Mahler Books, PFLUGERVILLE, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 13,51
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. This book is in very good condition; no remainder marks. It does have some cover shelfwear. Some scraping inside front cover from removal of a stubborn book plate. Inside pages are clean. ; The Springer International Series In Engineering And Computer Science, 494; 268 pages.
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King County Collects : Treasures of Our Historical Organizations
Idioma: Inglés
Publicado por Association of King County Historical Organizations, 2014
ISBN 10: 0974256854 ISBN 13: 9780974256856
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,79
Envío por EUR 2,32
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Craniospinal Trauma
Idioma: Inglés
Publicado por Thieme Medical Pub, New York, New York, U.S.A., 1990
ISBN 10: 086577322X ISBN 13: 9780865773226
Librería: P.C. Schmidt, Bookseller, Kettering, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 18,07
Envío por EUR 4,39
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHard Cover. Condición: Very Good Hardcover. Estado de la sobrecubierta: No Dustjacket. Illustrated Throughout Ilustrador. First Edition. an ex-hospital copy with minimal markings; pages white and bright; ---------- SATISFACTION GUARANTEED --------- FAST, COURTEOUS SERVICE ------ ALL DUSTJACKETS ARE COVERED WITH NEW CLEAR MYLAR PROTECTOR ----- Size: 7 x 10". Ex-Library.
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King County Collects : Treasures of Our Historical Organizations
Idioma: Inglés
Publicado por Association of King County Historical Organizations, 2014
ISBN 10: 0974256854 ISBN 13: 9780974256856
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 21,02
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Añadir al carritoCondición: New.
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Essays Offered to Herbert Putnam by His Colleagues and Friends on His Thirtieth Anniversary as Librarian of Congress, 5 April 1929
Publicado por Books for Libraries, Inc., Freeport, New York, 1967
Librería: About Books, Henderson, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 13,51
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Near Fine condition. Estado de la sobrecubierta: No jacket, as issued. Facsimile reprint of the 1929 edition. Freeport, New York: Books for Libraries, Inc., 1967. Appears unread. Near Fine. Condition would be FINE but for traces of tiny brown speckles (light foxing) to edges of the text block (as usual with this edition). NOT a library discard. Square and tight. Sharp corners. NO owner's name or bookplate. NO remainder mark. Text is clean and crisp, with NO foxing -- apparently never read. Hardcover. Facsimile reprint of the 1929 edition that was limited to just 600 copies. Illustrated with 5 portraits of Herbert Putnam and two maps. A book about books. This festschrift is crammed with useful and fascinating contributions by Lawrence C. Wroth, Louis R. Wilson, Henry R. Wagner, Oscar G. Sonneck, Harry Miller Lydenberg, Allen Johnson, Lucius Lee Hubbard, Worthington Chauncey Ford, George Watson Cole, J. Christian Bay, R. G. Adams, R. R. Bowker, etc. It includes essays on: Revolutionary War - Fort Moultrie; Tom Sawyer; Early Printed Laws of Massachusetts; Did Columbus Discover Tobago?; Franklin in France; Goethe's Letter to Joseph Green Cogswell; Boston Years of Dr W. F. Poole; Musicology in America; Portolan Atlases; Maryland Colonization Tracts; etc. Bound in the original beige cloth, lettered in black on the spine. Facsimile reprint of the 1929 edition. Hardcover. Near Fine condition/No jacket, as issued. 8vo. x, 555pp.
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THE YEAR'S BEST HORROR STORIES: Series XII (12) (Twelve)
Librería: WF Sandercombe, Burlington, ON, Canada
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 22,54
Envío por EUR 8,73
Se envía de Canada a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoSoft cover. Condición: Very Good. Vincente Segrelles; Ilustrador. 1st Edition. DAW Collector's Book 603. Light edge and corner wear with a flat uncreased spine; no interior markings. Cover art by Vincente Segrelles. This anthology contains: Introduction by Karl Edward Wagner; Uncle Otto's Truck by Stephen King; Out of Africa by David Drake; Names by Jane Yolen; Just Waiting ;by Ramsey Campbell; The Ventriloquist's Daughter by Juleen Brantingham; Elle Est Trois (La Mort) by Tanith Lee; The Man with Legs by Al Sarrantonio; 3:47 AM by David Langford; Mistral by Jon Wynne-Tyson; The Wall-Painting by Roger Johnson; Keepsake by Vincent McHardy; Echoes by Lawrence C. Connolly; After-Images by Malcolm Edwards; Come to the Party by Frances Garfield; The Attic by Billy Wolfenbarger; One for the Horrors by David J. Schow; Spring-Fingered Jack by Susan Casper; and The Flash! Kid by Scott Bradfield. Book.
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494)
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: World of Books (was SecondSale), Montgomery, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 55,84
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Añadir al carritoCondición: Very Good. Item in very good condition! Textbooks may not include supplemental items i.e. CDs, access codes etc.
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Craniospinal Trauma (trauma Management, Vol 5)
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 63,17
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Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Craniospinal Trauma (trauma Management, Vol 5)
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 63,67
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Essays Offered to Herbert Putnam by His Colleagues and Friends on His Thirtieth Anniversary as Librarian of Congress, 5 April 1929
Publicado por Yale University Press, New Haven, Connecticut, 1929
Librería: About Books, Henderson, NV, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 36,09
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good condition. First Edition, Limited to 600 copies. New Haven, Connecticut: Yale University Press, 1929. Very Good condition. 1929 First Edition. Limited to 600 copies. NOT a library discard. Square and tight. NO owner's name or bookplate. Text is clean and crisp, with NO foxing. Hardcover. Illustrated with 5 portraits of Herbert Putnam and two maps. A book about books. This festschrift is crammed with useful and fascinating contributions by Lawrence C. Wroth, Louis R. Wilson, Henry R. Wagner, Oscar G. Sonneck, Harry Miller Lydenberg, Allen Johnson, Lucius Lee Hubbard, Worthington Chauncey Ford, George Watson Cole, J. Christian Bay, R. G. Adams, R. R. Bowker, etc. It includes essays on: Revolutionary War - Fort Moultrie; Tom Sawyer; Early Printed Laws of Massachusetts; Did Columbus Discover Tobago?; Franklin in France; Goethe's Letter to Joseph Green Cogswell; Boston Years of Dr W. F. Poole; Musicology in America; Portolan Atlases; Maryland Colonization Tracts; etc. Typography by Carl Purington Rollins. Bound in the original gilt-stamped blue cloth. First Edition, Limited to 600 copies. Hardcover. Very Good condition. 8vo. x, 555pp.
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Craniospinal Trauma
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 73,31
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Añadir al carritoCondición: Used.
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Craniospinal Trauma
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 71,71
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Craniospinal Trauma
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 71,86
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494)
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Studibuch, Stuttgart, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 36,14
Envío por EUR 62,30
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Añadir al carritohardcover. Condición: Gut. 268 Seiten; 9780412145612.3 Gewicht in Gramm: 1.
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494)
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,36
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494)
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,20
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science)
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,20
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,18
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 183,34
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 183,91
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 189,63
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,10
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Failure Analysis of Integrated Circuits | Tools and Techniques | Lawrence C. Wagner | Taschenbuch | The Springer International Series in Engineering and Computer Science | xiii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461372318 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 215,62
Envío por EUR 3,50
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 272.
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 201,02
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. This book also includes the coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Editor(s): Wagner, Lawrence C. Series: The Springer International Series in Engineering and Computer Science. Num Pages: 255 pages, biography. BIC Classification: TJFC; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 155 x 17. Weight in Grams: 565. . 1999. 1999th Edition. hardcover. . . . .
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Failure Analysis of Integrated Circuits
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 216,87
Envío por EUR 3,50
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 276.
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494) Wagner Lawrence, C.
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 189,90
Envío por EUR 39,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: gut. 1999. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494, Band 494) In englischer Sprache. pages.
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 167,14
Envío por EUR 62,09
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,73
Envío por EUR 62,91
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques provides a basic understanding of how the most commonly used tools and techniques in silicon-based semiconductors are applied to understanding the root cause of electrical failures in integrated circuits. These include applications specific to performing failure analysis such as decapsulation, deprocessing, and fail site isolation, as well as physical and chemical analysis tools and techniques. The coverage is qualitative, and it provides a general understanding for making intelligent tool choices. Also included is coverage of the shortcomings, limitations, and strengths of each technique. Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques is a `must have' reference work for semiconductor professionals and researchers.
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Failure Analysis of Integrated Circuits : Tools and Techniques
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 241,13
Envío por EUR 17,56
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Failure Analysis of Integrated Circuits: Tools and Techniques (The Springer International Series in Engineering and Computer Science, 494)
Libro 195 de 260: The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 231,50
Envío por EUR 29,27
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
