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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Publicado por Kluwer Academic Pub, Boston, 1998
ISBN 10: 0792382951 ISBN 13: 9780792382959
Idioma: Inglés
Librería: Feldman's Books, Menlo Park, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 31,31
EUR 3,91 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Fine. First Edition. A very clean, unmarked copy.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 55,21
EUR 3,26 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 59,99
EUR 22,50 gastos de envío desde Francia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Très bon. Ancien livre de bibliothèque. Edition 1998. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Very good. Former library book. Edition 1998. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Delay Fault Testing For Vlsi Circuits
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 100,73
Gratis gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Librería: ALLBOOKS1, Direk, SA, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 111,46
Gratis gastos de envío desde Australia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 119,61
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 212.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 126,89
EUR 7,39 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 212 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 126,40
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 212.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 49,31
EUR 105,00 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 159,33
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 159,67
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,16
EUR 13,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,13
EUR 13,63 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 207,15
EUR 3,46 gastos de envío en Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 210.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (14))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 222,63
EUR 28,44 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 136,16
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. In the early days of digital design, we were concerned with the logical correctness of circuits. We knew that if we slowed down the clock signal sufficiently, the circuit would function correctly. With improvements in the semiconductor process technology, o.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 136,16
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. In the early days of digital design, we were concerned with the logical correctness of circuits. We knew that if we slowed down the clock signal sufficiently, the circuit would function correctly. With improvements in the semiconductor process technology, o.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 223,34
EUR 7,39 gastos de envío desde Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 210 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 222,45
EUR 9,95 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 210.
