Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Libro 31 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Angela Krstic|Kwang-Ting (Tim) Cheng

ISBN 10: 0792382951 ISBN 13: 9780792382959
Editorial: Springer US, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por moluna, Greven, Alemania

Vendedor de AbeBooks desde 9 de julio de 2020

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 136,16
EUR 48,99 gastos de envío desde Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito