Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 14)

Angela Krstic et Kwang-Ting (Tim) Cheng

ISBN 10: 0792382951 ISBN 13: 9780792382959
Editorial: Springer, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Excelente Encuadernación de tapa dura

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