Delay Fault Testing for VLSI Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 1998

0792382951 / 9780792382959

Serie: Libro 31 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

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pp. 212.

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Título
Delay Fault Testing for VLSI Circuits
Autor
Angela Krstic
Editorial
Springer
Año de publicación
1998
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
0792382951
ISBN 13
9780792382959
Serie
Libro 31 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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