Delay Fault Testing for VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing)

Libro 31 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Krstic, Angela; Kwang-Ting (Tim) Cheng

ISBN 10: 1461375614 ISBN 13: 9781461375616
Editorial: Springer, 2012
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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