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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems Volume 2.
Idioma: Inglés
Publicado por Plenum Press, New York, 1990
ISBN 10: 0306435314 ISBN 13: 9780306435317
Librería: Rivermead Books, Southampton., Reino Unido
Calificación del vendedor: 1 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 7,16
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHard Cover. Condición: Very Good. No Jacket. First Edition. VG, hardback, maroon glazed board covers with white titles on spine turning purple, contents are clean and unmarked,large octavo 316pp. Ex-Admiralty Underwater Weapons Library. weight 750g. Ex-Library.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems 1992 IEEE International Workshop Proceedings
Idioma: Inglés
Publicado por IEEE Computer Society Press, Los Alamos, NM, 1993
ISBN 10: 0818628359 ISBN 13: 9780818628351
Librería: NWJbooks, Lancaster, PA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 27,13
Envío por EUR 8,78
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New. No Jacket. 1st Edition. Black lettering on yellow covers. 8vo, 334pp.
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The IEEE international workshop on Defect & Fault-Tolerance in VLSI Systems, Proceedings, 1995.
Idioma: Inglés
Publicado por IEEE Computer Society Press, Los Alamitos, 1995
ISBN 10: 0818671076 ISBN 13: 9780818671074
Librería: Lost and Found Books, Healesville, VIC, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,89
Envío por EUR 8,78
Se envía de Australia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohard cover. Condición: Very Good. No Jacket. Illustrated in black and white. 305 pages VG. Slight shelf wear to covers, overall very good condition.
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1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: October 20-22, 1997 Paris, France
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 104,89
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Añadir al carritopaperback. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority!
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,63
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,42
Envío por EUR 17,95
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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2000 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems (Dft 2000)
Librería: D2D Books, Berkshire, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 119,23
Envío por EUR 23,06
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Añadir al carritoSoft cover. Condición: As New. I.E.E.E.Press/ Computer Society 2000 paperback 422 pages full of statistics, minor shelfwear but this is A BRAND NEW BOOK UNUSED. Full refund if not satisfied. 24 hour despatch via Insured for. If not pictured in this listing, a scan of the actual book is available on request.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 150,58
Envío por EUR 3,50
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 380.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 1
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,70
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 1 | Israel Koren | Taschenbuch | xii | Englisch | 2012 | Springer | EAN 9781461568018 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 1
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,12
Envío por EUR 14,48
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 374 pages. 9.45x6.61x0.86 inches. In Stock.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,52
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,52
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Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,25
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 182,64
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Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 181,40
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,49
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : Volume 1
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,36
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book contains an edited selection of papers presented at the International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems held October 6-7, 1988 in Springfield, Massachusetts. Our thanks go to all the contributors and especially the members of the program committee for the difficult and time-consuming work involved in selecting the papers that were presented in the workshop and reviewing the papers included in this book. Thanks are also due to the IEEE Computer Society (in particular, the Technical Committee on Fault-Tolerant Computing and the Technical Committee on VLSI) and the University of Massachusetts at Amherst for sponsoring the workshop, and to the National Science Foundation for supporting (under grant number MIP-8803418) the keynote address and the distribution of this book to all workshop attendees. The objective of the workshop was to bring t. ogether researchers and practition ers from both industry and academia in the field of defect tolerance and yield en ha. ncement in VLSI to discuss their mutual interests in defect-tolerant architectures and models for integrated circuit defects, faults, and yield. Progress in this area was slowed down by the proprietary nature of yield-related data, and by the lack of appropriate forums for disseminating such information. The goal of this workshop was therefore to provide a forum for a dialogue and exchange of views. A follow-up workshop in October 1989, with C. H. Stapper from IBM and V. K. Jain from the University of South Florida as general co-chairmen, is being organized.
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Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 181,87
Envío por EUR 17,38
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 216,56
Envío por EUR 3,50
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 336.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 217,14
Envío por EUR 3,50
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 332.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 2
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 141,20
Envío por EUR 70,00
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems | Volume 2 | C. H. Stapper (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2013 | Humana | EAN 9781475799590 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : Volume 2
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US, Springer New York, 2013
ISBN 10: 1475799594 ISBN 13: 9781475799590
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,73
Envío por EUR 63,13
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems : Volume 2
Idioma: Inglés
Publicado por Springer US, Springer US, 1990
ISBN 10: 0306435314 ISBN 13: 9780306435317
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,73
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Higher circuit densities, increasingly more complex application ohjectives, and advanced packaging technologies have suhstantially increased the need to incorporate defect-tolerance and fault-tolerance in the design of VLSI and WSI systems. The goals of defect-tolerance and fault-tolerance are yield enhancement and improved reliahility. The emphasis on this area has resulted in a new field of interdisciplinary scientific research. I n fact, advanced methods of defect/fault control and tolerance are resulting in enhanced manufacturahility and productivity of integrated circuit chips, VI.SI systems, and wafer scale integrated circuits. In 1987, Dr. W. Moore organized an 'International Workshop on Designing for Yield' at Oxford University. Edited papers of that workshop were published in reference [II. The participants in that workshop agreed that meetings of this type should he con tinued. preferahly on a yearly hasis. It was Dr. I. Koren who organized the 'IEEE Inter national Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems' in Springfield Massachusetts the next year. Selected papers from that workshop were puhlished as the first volume of this series [21.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 239,20
Envío por EUR 14,48
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. reprint edition. 329 pages. 10.00x7.01x0.75 inches. In Stock.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems: Volume 2
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 232,73
Envío por EUR 28,97
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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The IEEE International Workshop on Defect And Fault Tolerance in Vlsi Systems
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 294,79
Envío por EUR 28,97
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritohardcover. Condición: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 86,24
Envío por EUR 6,80
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Jun 2012, 2012
ISBN 10: 1461568013 ISBN 13: 9781461568018
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 126,26
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Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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