1997 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in Vlsi Systems: October 20-22, 1997 Paris, France

IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

ISBN 10: 0818681683 ISBN 13: 9780818681684
Editorial: IEEE Computer Society, 1997
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Aceptable Encuadernación de tapa blanda

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