Computed electron micrographs defect de head (5 resultados)
Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
- Tapa dura
Librería: MB Books, Derbyshire, Reino UnidoMB Books
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- Tapa dura
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- Tapa dura
- Primera edición
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Condición: Usado - Aceptable
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- Tapa blanda
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Paperback. Condición: Brand New. 412 pages. 9.00x6.00x0.93 inches. In Stock.
Computed electron micrographs and defect identification.
Head, A. K., P. Humble, L. M. Clarebrough, A. J. Morton and C. T. Forwood.
Editorial: Amsterdam, North-Holland Publ. Comp. 1973., 1973
- Tapa dura
Librería: Antiquariat Löcker, Wien, AustriaAntiquariat Löcker
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EUR 29,00
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In Englisch. gr.-8°, 400 S., mit zahlr. Textabb., OLn. m. Klarsichtfolien-Überzug, guter Zustand, ausgeschied. Bibl.-Expl. mit den üblichen Kennzeichnungen. ISBN 0-720417570.
