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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids S.) - Tapa dura
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Publicado por
North-Holland Publishing Company, 1973
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: MB Books, Derbyshire, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification
Publicado por
North Holland, Amsterdam, 1973
ISBN 10: 0720417570
ISBN 13: 9780720417579
Antiguo o usado
Tapa dura
Original o primera edición
Librería: Webbooks, Wigtown, Wigtown, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hard Cover. Condición: Good. No Jacket. First edition. From an academic library with the usual stamps etc. Nº de ref. del artículo: PF3875
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