Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)

Idioma: inglés

Editorial: North-Holland Publishing Company, 1973

0720417570 / 9780720417579

Librería: MB Books, Derbyshire, Reino UnidoMB Books

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Detalles bibliográficos

Título
Computed Electron Micrographs and Defect Identification (Defects in Crystalline Solids)
Autor
A K Head, P Humble, L M Clarebrough, A J Morton and C T Forwood
Editorial
North-Holland Publishing Company
Año de publicación
1973
Estado
Good
Sobrecubierta
No Jacket
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
0720417570
ISBN 13
9780720417579

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