Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7 - Tapa blanda

Head, A. K.

9780444569974: Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7

Tapa blanda

ISBN 10: 0444569979 ISBN 13: 9780444569974

Editorial: North Holland, 2012

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Detalles de la edici�n

Editorial: North Holland
A�o de publicaci�n: 2012
Idioma: Ingl�s
ISBN 10: 0444569979
ISBN 13: 9780444569974
Encuadernaci�n: Tapa blanda
N�mero de p�ginas: 412
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Computed Electron Micrographs and Defect Identification, Volume 7

A. K. Head

Publicado por North Holland, 2012

ISBN 10: 0444569979 ISBN 13: 9780444569974

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