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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces (Oxford Series on Optical and Imaging Sciences)
Idioma: Inglés
Publicado por U.S.A.: Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Librería: Bingo Books 2, Vancouver, WA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 24,30
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Good. 2nd Edition. REVISED HARDBACK BOOK IN GOOD TO VERY GOOD CONDITION,BOOK IS SLIGHTLY TWISTED.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 23,53
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,800grams, ISBN:019509204X.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces - Oxford Series in Optical and Imaging Sciences - Revised Edition
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, New York, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Librería: Don's Book Store, Albuquerque, NM, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 39,75
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Añadir al carritoHard Back. Condición: Very Good. Estado de la sobrecubierta: No Dust Jacket. Revised Edition - Third Printing. 263 Pages Indexed. Solid book in great condition. High interest and major advances in the technology of scanning force microscopy that have taken place since the 1991 release has made this Revised Edition necessary. The tenth anniversary of Scanning Tunneling Microscopy, celebrated at the Sixth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy in Interlaken, Switzerland August 12-16, 1991, with more than one thousand participants, produced three volumes of papers that attest to the ever-growing interest in this technology. As the field of scanning force microscopy has matured, a gradual shift in gears has taken place, from activities involving the development of instruments to their use as probes in a large rainbow of disciplines. Therefore, this new print, which includes all the material contained in the first print, additionally has the latest available list of new references that deal with electric, magnetic, and atomic force microscopy. It should also be noted that several scanning force microscopy related reviews have appeared, some of which present detailed information on specialized topics. Contents in 13 Chapters: Mechanical Properties of Levers, Resonance Enhancement, Sources of Noise, Tuneling Detection System, Capacitance Detection System, Homodyne Detection System, Heterodyne Detection System, Laser-Diode Feedback Detection System, Polarization Detection System, Deflection System, Electric Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, and Atomic Force Microscopy.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 24,60
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Añadir al carritoCondición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:9780195092042.
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Atomic Force Microscopy: Biomedical Methods and Applications (Methods in Molecular Biology, 242)
Librería: Once Upon A Time Books, Siloam Springs, AR, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 38,44
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Añadir al carritohardcover. Condición: Good. This is a used book in good condition and may show some signs of use or wear . This is a used book in good condition and may show some signs of use or wear .
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Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Librería: Bookbot, Prague, Republica Checa
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 34,49
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Fine. Leichte Rillen / Abschürfungen / Risse / Knicke. This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM). The material becomes progressively more complex throughout the book, explaining details of calibration, physical origin of artifacts, and signal/noise limitations. Coverage spans imaging, materials property characterization, in-liquid interfacial analysis, tribology, and electromagnetic interactions.
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Quantitative Measurements of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions Using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 66,36
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Añadir al carritoCondición: New.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Wiley & Sons, Incorporated, John, 2012
ISBN 10: 0470638826 ISBN 13: 9780470638828
Librería: Better World Books, Mishawaka, IN, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 76,95
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Añadir al carritoCondición: Good. Pages intact with minimal writing/highlighting. The binding may be loose and creased. Dust jackets/supplements are not included. Stock photo provided. Product includes identifying sticker. Better World Books: Buy Books. Do Good.
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM): Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 65,74
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Idioma: Inglés
Publicado por VDM Verlag Dr. Mueller e.K. 2008-06-19, 2008
ISBN 10: 3639024613 ISBN 13: 9783639024616
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,96
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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Quantitative Measurements of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions Using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 64,91
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Atomic Force Microscopy: Biomedical Methods and Applications (Methods in Molecular Biology, 242)
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 78,84
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Añadir al carritohardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por LAP LAMBERT Academic Publishing, 2019
ISBN 10: 6200247242 ISBN 13: 9786200247247
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 73,56
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 60 pages. 8.66x5.91x0.14 inches. In Stock.
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Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por LAP LAMBERT Academic Publishing, 2019
ISBN 10: 6200247242 ISBN 13: 9786200247247
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 36,25
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications | Vanarajsinh Solanki (u. a.) | Taschenbuch | 60 S. | Englisch | 2019 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786200247247 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Cmos Cantilever Sensor Systems: Atomic Force Microscopy and Gas Sensing Applications
Libro 13 de 17: Microtechnology and MEMSIdioma: Inglés
Publicado por Secaucus, New Jersey, U.S.A.: Springer Verlag, 2002
ISBN 10: 3540431438 ISBN 13: 9783540431435
Librería: Bingo Books 2, Vancouver, WA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 106,01
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Fine. hardback book in fine condition.
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CMOS Cantilever Sensor Systems: Atomic Force Microscopy and Gas Sensing Applications (Microtechnology and MEMS)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 113,43
Envío por EUR 13,83
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Añadir al carritoCondición: New. In.
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Atomic Force Microscopy: Biomedical Methods and Applications (Methods in Molecular Biology, 242)
Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,05
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has soft covers. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,700grams, ISBN:9781489939319.
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Scanning Force Microscopy: With Applications to Electric, Magnetic, and Atomic Forces
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 31,30
Envío por EUR 105,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 284 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation and applications are discussed.
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) - Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Idioma: Inglés
Publicado por VDM Verlag Dr. Mueller E.K., 2008
ISBN 10: 3639024613 ISBN 13: 9783639024616
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 65,08
Envío por EUR 75,02
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Añadir al carritoBook. Condición: New.
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Atomic-force Microscopy and Its Applications
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 132,37
Envío por EUR 13,83
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Atomic Force Microscopy - Understanding Basic Modes and Advanced Applications (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 136,40
Envío por EUR 8,00
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 147,20
Envío por EUR 2,26
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences. Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Idioma: Inglés
Publicado por VDM Verlag Dr. Müller, VDM Verlag Dr. Müller E.K., 2008
ISBN 10: 3639024613 ISBN 13: 9783639024616
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 85,02
Envío por EUR 61,40
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Neuware - The atomic force microscope (AFM) was originally utilised for its imaging capabilities. The full potential of the AFM as a three-dimensional force profiling instrument is only now being realised in an increasingly broad range of fields. One of the key requirements for AFM measurements is the quantification of both in-plane and out-of-plane forces acting between the tip and the sample. In this book the procedure for calibration and the various factors to consider when undertaking such studies is outlined with a focus on force-versus-distance and frictional measurements. Examples of surface property analyses, based on the quantification of forces, are shown, with examples ranging from living animal cells to polymeric materials. This book is designed for researchers and students who are interested in carrying out nano scale force measurements in the biological, physical and chemical sciences on a range of systems.
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Quantitative Measurements of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions Using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 143,83
Envío por EUR 17,31
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Quantitative Measurements of Nano Forces using Atomic Force Microscopy (AFM): Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 134,33
Envío por EUR 28,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 147,56
Envío por EUR 17,31
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Atomic Force Microscopy : Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,76
Envío por EUR 2,26
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Scanning Force Microscopy : With Applications to Electric, Magnetic and Atomic Forces
Idioma: Inglés
Publicado por Oxford University Press, 1994
ISBN 10: 019509204X ISBN 13: 9780195092042
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,52
Envío por EUR 2,26
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Añadir al carritoCondición: New.
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Quantitative Measurements of Nano Forces Using Atomic Force Microscopy (AFM) : Quantifying Nano Forces in Three-Dimensions Using AFM: Applications in the Biological, Physical and Chemical Sciences
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,58
Envío por EUR 2,26
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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CMOS Cantilever Sensor Systems : Atomic Force Microscopy and Gas Sensing Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642077285 ISBN 13: 9783642077289
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
Envío por EUR 61,24
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is intended for scientists and engineers in the field of micro- and nano electro-mechanical systems (MEMS and NEMS) and introduces the development of cantilever-based sensor systems using CMOS-compatible micromachining from the design concepts and simulations to the prototype. It is also a useful resource for researchers on cantilever sensors and resonant sensors in general The reader will become familiar with the potential of the combination of two technological approaches: IC fabrication technology, notably CMOS technology, and silicon micromachining and the resulting microstructures such as cantilever beams. It was recognized early that these two technologies should be merged in order to make the microstructures smart and devise integrated microsystems with on-chip driving and signal conditioning circuitry - now known as CMOS MEMS or, with the arrival of nanostructures, CMOS NEMS. One way to achieve the merger is the post-processing micro- or nano- machining of finished CMOS wafers, some of which is described in this book. The book introduces this approach based on work carried out at the Physical Electronics Laboratory of ETH Zurich on arrays of cantilever transducers with on-chip driving and signal conditioning circuitry. These cantilevers are familiar from Scanning Probe Microscopy (SPM) and allow the sensitive detection of phys ical quantities such as forces and mass changes. The book is divided into three parts. First, general aspects of cantilever resona tors are introduced, e. g. their resonant behavior and possible driving and sensing mechanisms.
