Atomic force microscopy applications (84 resultados)
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Hardcover. Condición: Very Good. No Jacket. Former library book; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Hardcover. Condición: Good. 2nd Edition. REVISED HARDBACK BOOK IN GOOD TO VERY GOOD CONDITION,BOOK IS SLIGHTLY TWISTED.
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Condición: Fair. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. Clean from markings. In fair condition, suitable as a study copy. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,800grams, ISBN:019509204X.
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Librería: Don's Book Store, Albuquerque, NM, Estados Unidos de AmericaDon's Book Store
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Hard Back. Condición: Very Good. No Dust Jacket. Revised Edition - Third Printing. 263 Pages Indexed. Solid book in great condition. High interest and major advances in the technology of scanning force microscopy that have taken place since the 1991 release has made this Revised Edition necessary. The tenth anniversary of Scanni…ng Tunneling Microscopy, celebrated at the Sixth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy in Interlaken, Switzerland August 12-16, 1991, with more than one thousand participants, produced three volumes of papers that attest to the ever-growing interest in this technology. As the field of scanning force microscopy has matured, a gradual shift in gears has taken place, from activities involving the development of instruments to their use as probes in a large rainbow of disciplines. Therefore, this new print, which includes all the material contained in the first print, additionally has the latest available list of new references that deal with electric, magnetic, and atomic force microscopy. It should also be noted that several scanning force microscopy related reviews have appeared, some of which present detailed information on specialized topics. Contents in 13 Chapters: Mechanical Properties of Levers, Resonance Enhancement, Sources of Noise, Tuneling Detection System, Capacitance Detection System, Homodyne Detection System, Heterodyne Detection System, Laser-Diode Feedback Detection System, Polarization Detection System, Deflection System, Electric Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, and Atomic Force Microscopy.
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Librería: Anybook.com, Lincoln, Reino UnidoAnybook.com
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EUR 24,96
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Condición: Good. This is an ex-library book and may have the usual library/used-book markings inside.This book has hardback covers. In good all round condition. Please note the Image in this listing is a stock photo and may not match the covers of the actual item,650grams, ISBN:9780195092042.
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hardcover. Condición: Good. This is a used book in good condition and may show some signs of use or wear . This is a used book in good condition and may show some signs of use or wear .
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Paperback. Condición: New.
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Condición: New.
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hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications
Mishra, Dr. Pramita/ Solanki, Dr. Vanarajsinh/ Dasadiya, Dr. Abhay
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 60 pages. 8.66x5.91x0.14 inches. In Stock.
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Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 36,35
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications | Vanarajsinh Solanki (u. a.) | Taschenbuch | 60 S. | Englisch | 2019 | LAP LAMBERT Academic Publishing | EAN 9786200247247 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de…| Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Secaucus, New Jersey, U.S.A.: Springer Verlag, 2002
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EUR 108,65
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Hardcover. Condición: Fine. hardback book in fine condition.
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Condición: New. In.
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EUR 28,59
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 284 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This revised edition has been updated to include important new research in scanning force microscopy since the publication of the original edition in 1991. The bibliography has been thoroughly revised. Basic theory, instrumentation an…d applications are discussed.
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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EUR 139,43
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Condición: New.
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EUR 102,53
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Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
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EUR 66,04
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Book. Condición: New.
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Condición: New. In.
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EUR 136,40
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Condición: new.
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Idioma: Inglés
Editorial: VDM Verlag Dr. Müller, VDM Verlag Dr. Müller E.K., 2008
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Taschenbuch. Condición: Neu. Neuware - The atomic force microscope (AFM) was originally utilised for its imaging capabilities. The full potential of the AFM as a three-dimensional force profiling instrument is only now being realised in an increasingly broad range of fields. One of the key requirements for AFM measurements is th…e quantification of both in-plane and out-of-plane forces acting between the tip and the sample. In this book the procedure for calibration and the various factors to consider when undertaking such studies is outlined with a focus on force-versus-distance and frictional measurements. Examples of surface property analyses, based on the quantification of forces, are shown, with examples ranging from living animal cells to polymeric materials. This book is designed for researchers and students who are interested in carrying out nano scale force measurements in the biological, physical and chemical sciences on a range of systems.
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Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 149,34
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
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EUR 106,99
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book is intended for scientists and engineers in the field of micro- and nano electro-mechanical systems (MEMS and NEMS) and introduces the development of cantilever-based sensor systems using CMOS-compatible micromachining from the design con…cepts and simulations to the prototype. It is also a useful resource for researchers on cantilever sensors and resonant sensors in general The reader will become familiar with the potential of the combination of two technological approaches: IC fabrication technology, notably CMOS technology, and silicon micromachining and the resulting microstructures such as cantilever beams. It was recognized early that these two technologies should be merged in order to make the microstructures smart and devise integrated microsystems with on-chip driving and signal conditioning circuitry - now known as CMOS MEMS or, with the arrival of nanostructures, CMOS NEMS. One way to achieve the merger is the post-processing micro- or nano- machining of finished CMOS wafers, some of which is described in this book. The book introduces this approach based on work carried out at the Physical Electronics Laboratory of ETH Zurich on arrays of cantilever transducers with on-chip driving and signal conditioning circuitry. These cantilevers are familiar from Scanning Probe Microscopy (SPM) and allow the sensitive detection of phys ical quantities such as forces and mass changes. The book is divided into three parts. First, general aspects of cantilever resona tors are introduced, e. g. their resonant behavior and possible driving and sensing mechanisms.
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EUR 162,04
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EUR 162,03
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EUR 181,07
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