9789811931314 - thermal reliability of power semiconductor device in the renewable energy system (cpss power electronics series) de du, xiong; zhang, jun; li, gaoxian; yu, yaoyi; qian, cheng; du, rui (14 resultados)
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Xiong Du, Jun Zhang, Rui Du, Yaoyi Yu, Cheng Qian, Gaoxian Li
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado
EUR 76,18
Envío por EUR 105,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysi…s and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.
- Tapa dura
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de AmericaGrand Eagle Retail
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 190,22
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: new. Hardcover. This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain ex…isting reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device. This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (CPSS Power Electronics Series)
Du, Xiong; Zhang, Jun; Li, Gaoxian; Yu, Yaoyi; Qian, Cheng; Du, Rui
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 210,02
Envío por EUR 3,45Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. 1st ed. 2022 edition NO-PA16APR2015-KAP.
- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 160,49
Envío por EUR 62,44Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimen…tal tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 234,27
Envío por EUR 11,65Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 188 pages. 9.25x6.10x0.63 inches. In Stock.
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System Xiong Du, Jun Zhang, Rui Du, Yaoyi Yu, Cheng Qian, Gaoxian Li
Xiong Du, Jun Zhang, Rui Du, Yaoyi Yu, Cheng Qian, Gaoxian Li
- Tapa dura
Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 229,90
Envío por EUR 39,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: gut. 2022. Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System In deutscher Sprache. pages.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 126,26
Envío por EUR 5,50Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: new. Questo è un articolo print on demand.
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device
Du, Xiong; Zhang, Jun; Li, Gaoxian; Yu, Yaoyi; Qian, Cheng; Du, Rui
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 137,28
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
Condición: Brand New. New. Delivery takes 20-25 days. Print on Demand.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 160,49
Envío por EUR 23,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analys…is and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device. 188 pp. Englisch.
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Du, Xiong|Zhang, Jun|Li, Gaoxian|Yu, Yaoyi|Qian, Cheng|Du, Rui
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Berlin|Springer Nature Singapore|Springer, 2022
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 136,16
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and therma…l management. Theoretical analysis and experimenta.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 141,20
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Buch. Condición: Neu. Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System | Xiong Du (u. a.) | Buch | xvi | Englisch | 2022 | Springer | EAN 9789811931314 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbiete…r: preigu Print on Demand.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 160,49
Envío por EUR 60,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis a…nd experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.Springer-Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 188 pp. Englisch.
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (CPSS Power Electronics Series)
Du, Xiong; Zhang, Jun; Li, Gaoxian; Yu, Yaoyi; Qian, Cheng; Du, Rui
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 219,92
Envío por EUR 7,58Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. Print on Demand.
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System (CPSS Power Electronics Series)
Du, Xiong; Zhang, Jun; Li, Gaoxian; Yu, Yaoyi; Qian, Cheng; Du, Rui
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 225,06
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. PRINT ON DEMAND.
