Isbn: 9789048178766 - new methods of concurrent checking: 42 (frontiers in electronic testing) (13 resultados)

ISBN: 
Refinar con la Búsqueda avanzada

Filtrar la búsqueda

  • Libros (13)

a

Intervalo de precios personalizado (EUR)

a

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda

    Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 134,96

    Envío por EUR 2,36 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 15 disponibles

    Condición: New.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda

    Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 114,00

    Envío por EUR 35,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponible

    Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Computers are everywhere around us. We, for example, as air passengers, car drivers, laptop users with Internet connection, cell phone owners, hospital patients, inhabitants in the vicinity of a nuclear power station, students in a digital library or customers in a supermarket are dependent on their correct operation. Computers are incredibly fast, inexpensive and equipped with almost unimag- able large storage capacity. Up to 100 million transistors per chip are quite common today - a single transistor for each citizen of a large capital city in the world can be 2 easily accommodated on an ordinary chip. The size of such a chip is less than 1 cm . This is a fantastic achievement for an unbelievably low price. However, the very small and rapidly decreasing dimensions of the transistors and their connections over the years are also the reason for growing problems with reliability that will dramatically increase for the nano-technologies in the near future. Can we always trust computers Are computers always reliable Are chips suf- ciently tested with respect to all possible permanent faults if we buy them at a low price or have errors due to undetected permanent faults to be discovered by c- current checking Besides permanent faults, many temporary or transient faults are also to be expected. …

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda

    Librería: Books Puddle, Woodside, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 155,06

    Envío por EUR 3,56 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 4 disponibles

    Condición: New. pp. 192.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda

    Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 157,03

    Envío por EUR 11,05 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: New. In English.

  • Más imágenes

    Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda

    Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 95,25

    Envío por EUR 70,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 5 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. New Methods of Concurrent Checking | Michael Gössel (u. a.) | Taschenbuch | viii | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048178766 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda

    Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Usado - Como Nuevo

    EUR 187,13

    Envío por EUR 29,49 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponible

    Paperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda

    Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Usado - Como Nuevo

    EUR 221,59

    Envío por EUR 2,36 
    Se envía dentro de Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 15 disponibles

    Condición: As New. Unread book in perfect condition.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 86,24

    Envío por EUR 5,50 
    Se envía de Italia a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: new. Questo è un articolo print on demand.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer Netherlands Okt 2010, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 106,99

    Envío por EUR 23,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 2 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Computers are everywhere around us. We, for example, as air passengers, car drivers, laptop users with Internet connection, cell phone owners, hospital patients, inhabitants in the vicinity of a nuclear power station, students in a digital library or customers in a supermarket are dependent on their correct operation. Computers are incredibly fast, inexpensive and equipped with almost unimag- able large storage capacity. Up to 100 million transistors per chip are quite common today - a single transistor for each citizen of a large capital city in the world can be 2 easily accommodated on an ordinary chip. The size of such a chip is less than 1 cm . This is a fantastic achievement for an unbelievably low price. However, the very small and rapidly decreasing dimensions of the transistors and their connections over the years are also the reason for growing problems with reliability that will dramatically increase for the nano-technologies in the near future. Can we always trust computers Are computers always reliable Are chips suf- ciently tested with respect to all possible permanent faults if we buy them at a low price or have errors due to undetected permanent faults to be discovered by c- current checking Besides permanent faults, many temporary or transient faults are also to be expected. 192 pp. Englisch.…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer Netherlands, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 92,27

    Envío por EUR 48,99 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

    Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Of great importance for the emerging nanotechnologies with their increasing numbers of transient faultsShows in a systematic way how the best possible state-of-the-art digital error detection circuits can be designedThe only book which desc.…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 162,28

    Envío por EUR 7,67 
    Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 4 disponibles

    Condición: New. Print on Demand pp. 192 49:B&W 6.14 x 9.21 in or 234 x 156 mm (Royal 8vo) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, Springer Okt 2010, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 106,99

    Envío por EUR 60,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponible

    Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Computers are everywhere around us. We, for example, as air passengers, car drivers, laptop users with Internet connection, cell phone owners, hospital patients, inhabitants in the vicinity of a nuclear power station, students in a digital library or customers in a supermarket are dependent on their correct operation. Computers are incredibly fast, inexpensive and equipped with almost unimag- able large storage capacity. Up to 100 million transistors per chip are quite common today - a single transistor for each citizen of a large capital city in the world can be 2 easily accommodated on an ordinary chip. The size of such a chip is less than 1 cm . This is a fantastic achievement for an unbelievably low price. However, the very small and rapidly decreasing dimensions of the transistors and their connections over the years are also the reason for growing problems with reliability that will dramatically increase for the nano-technologies in the near future. Can we always trust computers Are computers always reliable Are chips suf- ciently tested with respect to all possible permanent faults if we buy them at a low price or have errors due to undetected permanent faults to be discovered by c- current checking Besides permanent faults, many temporary or transient faults are also to be expected.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 192 pp. Englisch.…

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2010

    9048178762 / 9789048178766

    Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

    • Tapa blanda
    • Impresión bajo demanda

    Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios

    Vendedor de 4 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 160,37

    Envío por EUR 9,95 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 4 disponibles

    Condición: New. PRINT ON DEMAND pp. 192.