Marienfeld daniel (6 resultados)
New Methods Of Concurrent Checking (frontiers In Electronic Testing)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2008
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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EUR 74,42
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New Methods Of Concurrent Checking: Preliminary Entry 42
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2008
- Tapa dura
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de AmericaSMASS Sellers
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EUR 88,85
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New Methods Of Concurrent Checking: Preliminary Entry 42
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2008
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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EUR 92,65
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New Methods of Concurrent Checking (Frontiers in Electronic Testing, 42)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2008
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 116,13
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands, 2010
- Tapa blanda
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EUR 92,27
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Of great importance for the emerging nanotechnologies with their increasing numbers of transient faultsShows in a systematic way how the best possible state-of-the-art digital error detection circuits can be designedT…he only book which desc.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands, 2008
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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EUR 93,00
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Of great importance for the emerging nanotechnologies with their increasing numbers of transient faultsShows in a systematic way how the best possible state-of-the-art digital error detection circuits can be designedT…he only book which desc.
