Marienfeld daniel (6 resultados)
New Methods Of Concurrent Checking (frontiers In Electronic Testing)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 20 de 40. Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 75,76
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
New Methods Of Concurrent Checking: Preliminary Entry 42
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 20 de 40. Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 85,31
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
New Methods of Concurrent Checking (Frontiers in Electronic Testing, 42)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 20 de 40. Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 115,24
Envío por EUR 13,83Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
New Methods of Concurrent Checking (Frontiers in Electronic Testing, 42)
Gössel, Michael; Ocheretny, Vitaly; Sogomonyan, Egor; Marienfeld, Daniel
Idioma: Inglés
Editorial: Springer 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 20 de 40. Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 139,59
Envío por EUR 13,83Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 20 de 40. Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 92,27
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Of great importance for the emerging nanotechnologies with their increasing numbers of transient faultsShows in a systematic way how the best possible state-of-the-art digital error detection circuits can be designedT…he only book which desc.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer Netherlands 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 20 de 40. Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 93,00
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Of great importance for the emerging nanotechnologies with their increasing numbers of transient faultsShows in a systematic way how the best possible state-of-the-art digital error detection circuits can be designedT…he only book which desc.
