New Methods of Concurrent Checking

Idioma: inglés

Editorial: Springer, Springer Okt 2010, 2010

9048178762 / 9789048178766

Serie: Libro 20 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Computers are everywhere around us. We, for example, as air passengers, car drivers, laptop users with Internet connection, cell phone owners, hospital patients, inhabitants in the vicinity of a nuclear power station, students in a digital library or customers in a supermarket are dependent on their correct operation. Computers are incredibly fast, inexpensive and equipped with almost unimag- able large storage capacity. Up to 100 million transistors per chip are quite common today - a single transistor for each citizen of a large capital city in the world can be 2 easily accommodated on an ordinary chip. The size of such a chip is less than 1 cm . This is a fantastic achievement for an unbelievably low price. However, the very small and rapidly decreasing dimensions of the transistors and their connections over the years are also the reason for growing problems with reliability that will dramatically increase for the nano-technologies in the near future. Can we always trust computers Are computers always reliable Are chips suf- ciently tested with respect to all possible permanent faults if we buy them at a low price or have errors due to undetected permanent faults to be discovered by c- current checking Besides permanent faults, many temporary or transient faults are also to be expected.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 192 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9789048178766

Título
New Methods of Concurrent Checking
Autor
Michael Gössel
Editorial
Springer, Springer Okt 2010
Año de publicación
2010
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
9048178762
ISBN 13
9789048178766
Peso del artículo
300 gramos
Dimensiones
235x155x11 mm
Serie
Libro 20 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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