9783319756868 - kelvin probe force microscopy: from single charge detection to device characterization: 65 (springer series in surface sciences, 65) (14 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Hardcover. Condición: gut. 2018. Springer Series in Surface Sciences - 65: Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization In deutscher Sprache. pages.
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Idioma: Inglés
Editorial: Cham, Springer, 2018
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Hardcover. xxiv, 521 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. R-16212 9783319756868 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Condición: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials…, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Hardcover. Condición: Brand New. 521 pages. 9.50x6.25x1.25 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, 2018
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Discusses the applications of Kelvin probe force microscopy in nanotechnologyProvides a detailed description of a variety of theoretical and experimental aspects of the techniqueIncludes contributions by lea…ding experts in the field.
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Editorial: Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland Mär 2018, 2018
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semicon…ductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field. 548 pp. Englisch.
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Editorial: Springer, Springer Mär 2018, 2018
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -Presents the applications of Kelvin probe force microscopy in nanotechnologyProvides an in-depth description of a variety of theoretical and experimental aspects of the techniqueIncludes contributions by the leading experts in the fieldSpringe…r-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 548 pp. Englisch.
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Editorial: Springer, 2018
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2018
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