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Springer Series in Surface Sciences - 65: Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Bookbot, Prague, Republica Checa
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 72,29
Envío por EUR 20,99
Se envía de Republica Checa a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Fine. Leichte Kratzer / Abnutzungen / Druckstellen; Abnutzung / Risse - leicht; Gebrochener Buchrücken / Seiten oder Softcover umgeknickt. This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics. In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume "Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces," presents new and complementary topics. It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences, 48)
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,75
Envío por EUR 13,90
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,80
Envío por EUR 2,32
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 134,96
Envío por EUR 3,51
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 348.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 124,35
Envío por EUR 17,40
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2013
ISBN 10: 3642271138 ISBN 13: 9783642271137
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2011
ISBN 10: 3642225659 ISBN 13: 9783642225659
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 92,27
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Kelvin Probe Force Microscopy
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 151,23
Envío por EUR 3,51
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 348.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences, 48)
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,45
Envío por EUR 13,90
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences)
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,28
Envío por EUR 14,50
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2012 edition. 290 pages. 9.25x6.10x0.79 inches. In Stock.
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Kelvin Probe Force Microscopy | Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,15
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Kelvin Probe Force Microscopy | Measuring and Compensating Electrostatic Forces | Sascha Sadewasser (u. a.) | Taschenbuch | Springer Series in Surface Sciences | xiv | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9783642271137 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,76
Envío por EUR 14,50
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2012 edition. 345 pages. 9.25x6.25x1.00 inches. In Stock.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
Envío por EUR 62,64
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer Vieweg, Springer, 2011
ISBN 10: 3642225659 ISBN 13: 9783642225659
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
Envío por EUR 63,44
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 195,93
Envío por EUR 17,40
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 201,39
Envío por EUR 13,90
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 201,39
Envío por EUR 13,90
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In English.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences, 48)
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 186,38
Envío por EUR 29,00
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces (Springer Series in Surface Sciences (48))
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 185,18
Envío por EUR 29,00
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Kelvin Probe Force Microscopy : Measuring and Compensating Electrostatic Forces
Libro 2 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 219,56
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Kelvin probe force microscopy. From single charge detection to device characterization.
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 197,50
Envío por EUR 40,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. xxiv, 521 S. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. Ex-library in GOOD condition with library-signature and stamp(s). Some traces of use. R-16212 9783319756868 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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Kelvin Probe Force Microscopy | From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 202,80
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Kelvin Probe Force Microscopy | From Single Charge Detection to Device Characterization | Sascha Sadewasser (u. a.) | Taschenbuch | xxiv | Englisch | 2019 | Springer | EAN 9783030092986 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization: 65 (Springer Series in Surface Sciences)
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 286,22
Envío por EUR 3,51
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 1st ed. 2018 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 290,84
Envío por EUR 3,51
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Springer Series in Surface Sciences - 65: Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization Sascha Sadewasser
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 259,90
Envío por EUR 39,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: gut. 2018. Springer Series in Surface Sciences - 65: Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization pages.
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesIdioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer Nature Switzerland, 2019
ISBN 10: 3030092984 ISBN 13: 9783030092986
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 235,39
Envío por EUR 64,10
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Kelvin Probe Force Microscopy : From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 246,77
Envío por EUR 64,90
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book provides a comprehensive introduction to the methods and variety of Kelvin probe force microscopy, including technical details. It also offers an overview of the recent developments and numerous applications, ranging from semiconductor materials, nanostructures and devices to sub-molecular and atomic scale electrostatics.In the last 25 years, Kelvin probe force microscopy has developed from a specialized technique applied by a few scanning probe microscopy experts into a tool used by numerous research and development groups around the globe. This sequel to the editors' previous volume 'Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces,' presents new and complementary topics.It is intended for a broad readership, from undergraduate students to lab technicians and scanning probe microscopy experts who are new to the field.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences (65))
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 317,80
Envío por EUR 29,00
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: New. New. book.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 353,26
Envío por EUR 40,60
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 521 pages. 9.50x6.25x1.25 inches. In Stock.
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Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization (Springer Series in Surface Sciences, 65)
Libro 24 de 30: Springer Series in Surface SciencesLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 364,39
Envío por EUR 29,00
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
