9783030415389 - yield-aware analog ic design and optimization in nanometer-scale technologies de canelas, antónio manuel lourenço; guilherme, jorge manuel correia; horta, nuno cavaco gomes (13 resultados)
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
Canelas, António Manuel Lourenço; Guilherme, Jorge Manuel Correia; Horta, Nuno Cavaco Gomes
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Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies 1st ed. 2020 Edition
Canelas, António Manuel Lourenço; Guilherme, Jorge Manuel Correia; Horta, Nuno Cavaco Gomes
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Yield-aware Analog Ic Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
Canelas, António Manuel Lourenço/ Guilherme, Jorge Manuel Correia/ Horta, Nuno Cavaco Gomes
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Taschenbuch. Condición: Neu. Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies | António Manuel Lourenço Canelas (u. a.) | Taschenbuch | xxiii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030415389 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]ha…rtmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm. The low time… impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations. The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population. In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization.
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Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Seiten: 264 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based a…lgorithm. The low time impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations. The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population. In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization.
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
Canelas, António Manuel Lourenço, Guilherme, Jorge Manuel Co
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Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in N
Canelas, António Manuel Lourenço; Guilherme, Jorge Manuel Correia; Horta, Nuno Cavaco Gomes
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorit…hm. The low time impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations. The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population. In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization. 264 pp. Englisch.
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies 1st ed. 2020 Edition
Canelas, António Manuel Lourenço; Guilherme, Jorge Manuel Correia; Horta, Nuno Cavaco Gomes
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Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies 1st ed. 2020 Edition
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm.…The low time impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations. The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population. In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 264 pp. Englisch.
