Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies

Idioma: inglés

Editorial: Springer International Publishing Mrz 2021, 2021

3030415384 / 9783030415389

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book presents a new methodology with reduced time impact to address the problem of analog integrated circuit (IC) yield estimation by means of Monte Carlo (MC) analysis, inside an optimization loop of a population-based algorithm. The low time impact on the overall optimization processes enables IC designers to perform yield optimization with the most accurate yield estimation method, MC simulations using foundry statistical device models considering local and global variations. The methodology described by the authors delivers on average a reduction of 89% in the total number of MC simulations, when compared to the exhaustive MC analysis over the full population. In addition to describing a newly developed yield estimation technique, the authors also provide detailed background on automatic analog IC sizing and optimization. 264 pp. Englisch.

N° de ref. del artículo 9783030415389

Título
Yield-Aware Analog IC Design and Optimization in Nanometer-scale Technologies
Autor
António Manuel Lourenço Canelas
Editorial
Springer International Publishing Mrz 2021
Año de publicación
2021
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
3030415384
ISBN 13
9783030415389
Peso del artículo
406 gramos
Dimensiones
235x155x15 mm

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