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9781786306401 - Applications and Metrology at Nanometer Scale 1, Volume 9: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties de Dahoo, Pierre Richard (17 resultados)
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 144,42
Envío por EUR 5,50
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,51
Envío por EUR 2,29
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,86
Envío por EUR 2,29
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 154,69
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 153,24
Envío por EUR 13,89
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 153,23
Envío por EUR 17,39
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,16
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 174,71
Envío por EUR 17,72
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 191,16
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 203,89
Envío por EUR 3,46
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2021
ISBN 10: 1786306409 ISBN 13: 9781786306401
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 192,67
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2021. 1st Edition. Hardcover. . . . . .
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 167,92
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Pierre Richard Dahoo is Professor and Holder of the Chair of Materials Simulation and Engineering at the University of Versailles Saint-Quentin in France. He is Director of Institut des Sciences et Techniques des Yvelines and a specialist in modeling and sp.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1, Volume 9: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 219,29
Envío por EUR 14,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 256 pages. 0.39x0.39x0.39 inches. In Stock.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2021
ISBN 10: 1786306409 ISBN 13: 9781786306401
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 242,54
Envío por EUR 9,10
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. 2021. 1st Edition. Hardcover. . . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 207,22
Envío por EUR 62,71
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - To develop innovations in quantum engineering and nanosystems, designers need to adopt the expertise that has been developed in research laboratories. This requires a thorough understanding of the experimental measurement techniques and theoretical models, based on the principles of quantum mechanics.This book presents experimental methods enabling the development and characterization of materials at the nanometer scale, based on practical engineering cases, such as 5G and the interference of polarized light when applied for electromagnetic waves. Using the example of electromechanical, multi-physical coupling in piezoelectric systems, smart materials technology is discussed, with an emphasis on scale reduction and mechanical engineering applications.Statistical analysis methods are presented in terms of their usefulness in systems engineering for experimentation, characterization or design, since safety factors and the most advanced reliability calculation techniques are included from the outset. This book provides valuable support for teachers and researchers but is also intended for engineering students, working engineers and Master s students.
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Applications and Metrology at Nanometer Scale 1, Volume 9: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 206,82
Envío por EUR 14,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 256 pages. 0.39x0.39x0.39 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Applications and Metrology at Nanometer-Scale 1: Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 211,49
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHardback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days 454.
