Applications and Metrology at Nanometer Scale 1 : Smart Materials, Electromagnetic Waves and Uncertainties

Dahoo, Pierre Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak

ISBN 10: 1786306409 ISBN 13: 9781786306401
Editorial: Wiley-ISTE, 2021
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido

Vendedor de AbeBooks desde 28 de enero de 2020

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 153,23
Envío por EUR 17,39
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito