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9781441923066 - Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology) de Foster, Adam; Hofer, Werner A. (11 resultados)
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Scanning Probe Microscopy
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 199,30
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 296.
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Scanning Probe Microscopy | Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,00
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Scanning Probe Microscopy | Atomic Scale Engineering by Forces and Currents | Adam Foster (u. a.) | Taschenbuch | xiv | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9781441923066 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Scanning Probe Microscopy : Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,73
Envío por EUR 62,26
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Scanning Probe Microscopy is a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Writing in a tutorial style, the authors explain from scratch the theory behind today's simulation techniques and give examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the materials properties influence the instrument's operation, and theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data.Key FeaturesServes as a comprehensive source of information for researchers, teachers, and students about the theory underlying the rapidly expanding field of scanning probe microscopyProvides a framework for linking scanning probe theory and simulations with experimental dataWritten in the style of a textbook with step-by-step examples of how theoretical concepts are used to generate state-of-the-art simulations.
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 230,25
Envío por EUR 14,35
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 281 pages. 9.00x6.00x0.70 inches. In Stock.
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Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents (NanoScience and Technology)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 227,07
Envío por EUR 28,71
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Scanning Probe Microscopy (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 126,26
Envío por EUR 5,50
Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new. Questo è un articolo print on demand.
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Scanning Probe Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer New York Nov 2010, 2010
ISBN 10: 1441923063 ISBN 13: 9781441923066
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,49
Envío por EUR 23,00
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Probe Microscopyprovides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Written in the style of a textbook, it explains from scratch the theory behind today's simulation techniques and gives examples of theoretical conceptsthrough state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations used in today's research, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the instrument's operation is changed by materials properties; theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data. 296 pp. Englisch.
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Scanning Probe Microscopy
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 136,16
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Written in the style of a textbook, it explains from scrat.
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Scanning Probe Microscopy
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 206,25
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 296.
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Scanning Probe Microscopy
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 209,52
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 296.
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Scanning Probe Microscopy
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Nov 2010, 2010
ISBN 10: 1441923063 ISBN 13: 9781441923066
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 160,49
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -The Physics of Scanning Probe Microscopes.- SPM: The Instrument.- Theory of Forces.- Electron Transport Theory.- Transport in the Low Conductance Regime.- Bringing Theory to Experiment in SFM.- Topographic images.- Single-Molecule Chemistry.- Current and Force Spectroscopy.- Outlook.Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld 296 pp. Englisch.
