9781032477688 - measurement error: models, methods, and applications (chapman & hall/crc interdisciplinary statistics) de buonaccorsi, john p. (17 resultados)
Measurement Error : Models, Methods, and Applications
Buonaccorsi, John P.; Morgan, Byron J.t. (EDT); Keiding, Niels (EDT); Van Der Heijden, Peter (EDT); Speed, Terry (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
- Tapa blanda
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Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Measurement Error : Models, Methods, and Applications
Buonaccorsi, John P.; Morgan, Byron J.t. (EDT); Keiding, Niels (EDT); Van Der Heijden, Peter (EDT); Speed, Terry (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Ltd, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Measurement Error : Models, Methods, and Applications
Buonaccorsi, John P.; Morgan, Byron J.t. (EDT); Keiding, Niels (EDT); Van Der Heijden, Peter (EDT); Speed, Terry (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Measurement Error : Models, Methods, and Applications
Buonaccorsi, John P.; Morgan, Byron J.t. (EDT); Keiding, Niels (EDT); Van Der Heijden, Peter (EDT); Speed, Terry (EDT)
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Idioma: Inglés
Editorial: Chapman & Hall, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 464 pages. 9.19x6.13x1.26 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Condición: New. John P. Buonaccorsi is a professor in the Department of Mathematics and Statistics at the University of Massachusetts, Amherst.Over the last 20 years, comprehensive strategies for treating measurement error in complex mode.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Ltd, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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Taschenbuch. Condición: Neu. Measurement Error | Models, Methods, and Applications | John P. Buonaccorsi | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2023 | Taylor & Francis Ltd | EAN 9781032477688 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: prei…gu.
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press Jan 2023, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Over the last 20 years, comprehensive strategies for treating measurement error in complex models and accounting for the use of extra data to estimate measurement error parameters have emerged. Focusing on both established and novel… approaches, Measurement Error: Models, Methods, and Applications provides an overview of the main techniques and illustrates their application in various models. It describes the impacts of measurement errors on naive analyses that ignore them and presents ways to correct for them across a variety of statistical models, from simple one-sample problems to regression models to more complex mixed and time series models.The book covers correction methods based on known measurement error parameters, replication, internal or external validation data, and, for some models, instrumental variables. It emphasizes the use of several relatively simple methods, moment corrections, regression calibration, simulation extrapolation (SIMEX), modified estimating equation methods, and likelihood techniques. The author uses SAS-IML and Stata to implement many of the techniques in the examples.Accessible to a broad audience, this book explains how to model measurement error, the effects of ignoring it, and how to correct for it. More applied than most books on measurement error, it describes basic models and methods, their uses in a range of application areas, and the associated terminology. 464 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Serie: Libro 17 de 45 - Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 2023
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Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Over the last 20 years, comprehensive strategies for treating measurement error in complex models and accounting for the use of extra data to estimate measurement error parameters have emerged. Focusing on both established and novel appr…oaches, Measurement Error: Models, Methods, and Applications provides an overview of the main techniques and illustrates their application in various models. It describes the impacts of measurement errors on naive analyses that ignore them and presents ways to correct for them across a variety of statistical models, from simple one-sample problems to regression models to more complex mixed and time series models.The book covers correction methods based on known measurement error parameters, replication, internal or external validation data, and, for some models, instrumental variables. It emphasizes the use of several relatively simple methods, moment corrections, regression calibration, simulation extrapolation (SIMEX), modified estimating equation methods, and likelihood techniques. The author uses SAS-IML and Stata to implement many of the techniques in the examples.Accessible to a broad audience, this book explains how to model measurement error, the effects of ignoring it, and how to correct for it. More applied than most books on measurement error, it describes basic models and methods, their uses in a range of application areas, and the associated terminology.
