Measurement Error : Models, Methods, and Applications

Libro 17 de 45: Chapman & Hall/CRC Interdisciplinary Statistics

Buonaccorsi, John P.; Morgan, Byron J.t. (EDT); Keiding, Niels (EDT); Van Der Heijden, Peter (EDT); Speed, Terry (EDT)

ISBN 10: 1032477687 ISBN 13: 9781032477688
Editorial: Chapman and Hall/CRC, 2023
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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