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9780850667585 - High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography de Bowen, D.K.; Tanner, Brian K. (13 resultados)
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High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography
Librería: Mahler Books, PFLUGERVILLE, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 88,57
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Gift inscription by Author to fly leaf. This book is in very good condition; no remainder marks. It does have some cover shelfwear. Inside pages are clean. ; 24.6 X 17.4 X 1.56 centimeters; 264 pages.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 169,27
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Añadir al carritoHardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 214,67
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Añadir al carritoCondición: New.
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High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 271,79
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 280,60
Envío por EUR 13,88
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 280,45
Envío por EUR 28,97
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 289,99
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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High Resolution X-Ray Diffraction and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 316,03
Envío por EUR 2,32
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 368,51
Envío por EUR 14,48
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 252 pages. 10.25x7.00x0.75 inches. In Stock.
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Bowen, D: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topograph
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 211,74
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Bowen, D.K. Tanner, Brian K.The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of .
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 285,83
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Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 297,71
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 347,20
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ray diffraction and the modern techniques available for deployment in research, development, and production. It provides the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization. The main aim of the book is to map the theoretical and practical background necessary to the study of single crystal materials by means of high-resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalisms with graphical explanations and hands-on practical advice for interpreting data.
