High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography

Bowen, D.K.; Tanner, Brian K.

ISBN 10: 0850667585 ISBN 13: 9780850667585
Editorial: CRC Press, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Aceptable Encuadernación de tapa dura

Vendido por Goodwill of Silicon Valley, SAN JOSE, CA, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 28 de junio de 2024

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Condición: Usado - Aceptable

Precio:
EUR 30,26
Envío por EUR 3,52
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito