High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography

Idioma: inglés

Editorial: CRC Press, 1998

0850667585 / 9780850667585

Librería: Mahler Books, PFLUGERVILLE, TX, Estados Unidos de AmericaMahler Books

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Gift inscription by Author to fly leaf. This book is in very good condition; no remainder marks. It does have some cover shelfwear. Inside pages are clean. ; 24.6 X 17.4 X 1.56 centimeters; 264 pages.

N° de ref. del artículo 06SA24-659-209

Título
High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography
Autor
Bowen, D. K. & Brian K. Tanner
Editorial
CRC Press
Año de publicación
1998
Estado
Very Good
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
0850667585
ISBN 13
9780850667585
Peso del artículo
1 libra

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