9780824785567 - electron and ion microscopy and microanalysis: principles and applications, second edition,: 29 (optical science and engineering) (13 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 1991
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Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 1991
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Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 1991
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Condición: Used. pp. 856 2nd Edition.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 1991
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 1991
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 1991
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 1991
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 1991
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 1991
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Idioma: Inglés
Editorial: CRC Press, 1991
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Inc Jul 1991, 1991
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Buch. Condición: Neu. Neuware - The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math back…gr.
Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,
Thompson, Brian J. (Series edited by)/ Murr, Lawrence E (Edited by)
Idioma: Inglés
Editorial: Marcel Dekker Inc, 1991
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 2nd sub edition. 856 pages. 10.24x7.28x1.65 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Taylor & Francis Group, 1991
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