T�tulo: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,
Editor: Marcel Dekker Inc
Fecha de publicaci�n: 1991
Idioma: Ingl�s
ISBN 10: 0824785568
ISBN 13: 9780824785567
Encuadernaci�n: Hardcover
Edici�n: 2� Edici�n
Estado: Brand New
Peso: 1,6 kilogramos

Acerca de

Sinopsis

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

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Lawrence E. Murr

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