Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,

Idioma: inglés

Editorial: Marcel Dekker Inc, 1991

0824785568 / 9780824785567

Serie: Libro 77 de 98 - Optical Science and Engineering

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Título
Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,
Autor
Thompson, Brian J. (Series edited by)/ Murr, Lawrence E (Edited by)
Editorial
Marcel Dekker Inc
Año de publicación
1991
Estado
Brand New
Encuadernación
Hardcover
Idioma
inglés
ISBN 10
0824785568
ISBN 13
9780824785567
Edición
2ª Edición
Peso del artículo
1,6 kilogramos
Serie
Libro 77 de 98: Optical Science and Engineering

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