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9780521158596 - Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications (19 resultados)
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Editor(s): Nan, Yao. Num Pages: 408 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGM; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 246 x 169 x 24. Weight in Grams: 668. . 2011. Reissue. paperback. . . . .
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Focused Ion Beam Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press CUP, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: New. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Editor(s): Nan, Yao. Num Pages: 408 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGM; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 246 x 169 x 24. Weight in Grams: 668. . 2011. Reissue. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems : Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,98
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Focused Ion Beam Systems (Paperback)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, Cambridge, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America
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Añadir al carritoPaperback. Condición: new. Paperback. The focused ion beam (FIB) system is an important tool for understanding and manipulating the structure of materials at the nanoscale. Combining this system with an electron beam creates a DualBeam - a single system that can function as an imaging, analytical and sample modification tool. Presenting the principles, capabilities, challenges and applications of the FIB technique, this edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the ion beam technology including the DualBeam. The basic principles of ion beam and two-beam systems, their interaction with materials, etching and deposition are all covered, as well as in situ materials characterization, sample preparation, three-dimensional reconstruction and applications in biomaterials and nanotechnology. With nanostructured materials becoming increasingly important in micromechanical, electronic and magnetic devices, this self-contained review of the range of ion beam methods, their advantages, and when best to implement them is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This edited volume, first published in 2007, comprehensively covers the focused ion beam and two beam technology. Presenting the basic principles, capabilities, challenges, advantages, applications and when best to implement the technology, this is a valuable resource for researchers in materials science, electrical engineering and nanotechnology. This item is printed on demand. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 1st edition. 407 pages. 9.75x6.75x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Focused Ion Beam Systems: Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 106,52
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Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 408 67:B&W 6.69 x 9.61 in or 244 x 170 mm (Pinched Crown) Perfect Bound on White w/Gloss Lam.
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Focused Ion Beam Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 106,26
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Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 408.
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Focused Ion Beam Systems (Paperback)
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, Cambridge, 2011
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Focused Ion Beam Systems
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications
Idioma: Inglés
Publicado por Cambridge University Press, 2010
ISBN 10: 0521158591 ISBN 13: 9780521158596
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 87,85
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Focused Ion Beam Systems | Basics and Applications | Nan Yao | Taschenbuch | Englisch | 2010 | Cambridge University Press | EAN 9780521158596 | Verantwortliche Person für die EU: Libri GmbH, Europaallee 1, 36244 Bad Hersfeld, gpsr[at]libri[dot]de | Anbieter: preigu Print on Demand.
