9780486450285 - a user's guide to ellipsometry (dover civil and mechanical engineering) de tompkins, harland g (19 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
- Tapa blanda
Librería: HPB Inc., Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaHPB Inc.
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Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
- Tapa blanda
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications 7/7/2006, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
- Tapa blanda
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Paperback or Softback. Condición: New. A User's Guide to Ellipsometry. Book.
Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
- Tapa blanda
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Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
- Tapa blanda
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Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de AmericaCalifornia Books
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Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications Inc., New York, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
- Tapa blanda
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Paperback. Condición: new. Paperback. This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. Its 14 case studies illustrate concepts and reinforce applications of ellipsometry - particular…ly in relation to the semiconductor industry and to studies involving corrosion and oxide growth.A User's Guide to Ellipsometry will enable readers to move beyond limited turn-key applications of ellipsometers. In addition to its comprehensive discussions of the measurement of film thickness and optical constants in film, it also considers the trajectories of the ellipsometric parameters Del and Psi and how changes in materials affect parameters. This volume also addresses the use of polysilicon, a material commonly employed in the microelectronics industry, and the effects of substrate roughness. Three appendices provide helpful references. Text for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 1993 edition. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
Idioma: Inglés
Editorial: Dover Pubns, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Paperback. Condición: Brand New. 260 pages. 8.25x5.25x0.50 inches. In Stock.
Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications Inc. 2009-01-01, 2009
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
- Tapa blanda
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
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Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, Incorporated, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, Incorporated, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: New. pp. xii + 260 Illus.
Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications Inc., 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Condición: New. Inhaltsverzeichnisrnrn1. Theoretical Aspectsn2. Instrumentationn3. Using Optical Parameters to Determine Material Propertiesn4. Determining Optical Parameters for Inaccessible Substrates and Unknown Filmsn5. Extremely Thin Filmsn6. The Spe.
Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editorial: Dover Publications Jul 2006, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Taschenbuch. Condición: Neu. Neuware - This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 14 case studies illustrate concepts and applications. Three appendices provide helpful referen…ces. 1993 edition.
Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications Inc., 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
- Tapa blanda
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Paperback / softback. Condición: New. This item is printed on demand. New copy - Usually dispatched within 5-9 working days.
Idioma: Inglés
Editorial: Dover Publications Inc., New York, 2006
Serie: Libro 37 de 53 - Dover Civil and Mechanical Engineering
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Editorial: Dover Publications Inc., New York, 2006
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