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A User's Guide to Ellipsometry (Dover Civil and Mechanical Engineering) - Tapa blanda
Libro 37 de 53: Dover Civil and Mechanical Engineering
Sinopsis
This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 14 case studies illustrate concepts and applications. Three appendices provide helpful references. 1993 edition.
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This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 14 case studies illustrate concepts and applications. Three appendices provide helpful references. 1993 edition.
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A User's Guide to Ellipsometry (Dover Civil and Mechanical Engineering)
Publicado por
Dover Publications, 2006
ISBN 10: 0486450287
ISBN 13: 9780486450285
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A User's Guide to Ellipsometry (Dover Civil and Mechanical Engineering)
Publicado por
Dover Publications, 2006
ISBN 10: 0486450287
ISBN 13: 9780486450285
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A User's Guide to Ellipsometry (Paperback or Softback)
Publicado por
Dover Publications 7/7/2006, 2006
ISBN 10: 0486450287
ISBN 13: 9780486450285
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A User's Guide to Ellipsometry (Dover Civil and Mechanical Engineering)
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User's Guide to Ellipsometry
Publicado por
Dover Publications, 2006
ISBN 10: 0486450287
ISBN 13: 9780486450285
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A User's Guide to Ellipsometry (Paperback)
Publicado por
Dover Publications Inc., New York, 2006
ISBN 10: 0486450287
ISBN 13: 9780486450285
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Paperback. Condición: new. Paperback. This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. Its 14 case studies illustrate concepts and reinforce applications of ellipsometry - particularly in relation to the semiconductor industry and to studies involving corrosion and oxide growth.A User's Guide to Ellipsometry will enable readers to move beyond limited turn-key applications of ellipsometers. In addition to its comprehensive discussions of the measurement of film thickness and optical constants in film, it also considers the trajectories of the ellipsometric parameters Del and Psi and how changes in materials affect parameters. This volume also addresses the use of polysilicon, a material commonly employed in the microelectronics industry, and the effects of substrate roughness. Three appendices provide helpful references. Text for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. 1993 edition. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability. Nº de ref. del artículo: 9780486450285
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A User's Guide to Ellipsometry
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A User's Guide to Ellipsometry
Publicado por
Dover Publications Inc., 2006
ISBN 10: 0486450287
ISBN 13: 9780486450285
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