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9780471954828 - Failure Mechanisms in Semiconductor 2e de Amerasekera; Najim (16 resultados)
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Idioma: Inglés
Publicado por Wiley & Sons, Incorporated, John, 1997
ISBN 10: 0471954829 ISBN 13: 9780471954828
Librería: Better World Books Ltd, Dunfermline, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,74
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 131,02
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 209,45
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices 2e (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 208,53
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 220,24
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 214,76
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 209,44
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 229,05
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Ltd, 1997
ISBN 10: 0471954829 ISBN 13: 9780471954828
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 271,56
Envío por EUR 10,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed. Num Pages: 358 pages, Illustrations. BIC Classification: PHFC; TGMT; TGPR; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 239 x 165 x 25. Weight in Grams: 676. . 1997. 2nd Edition. Hardcover. . . . .
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 235,01
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Failure Mechanisms in Semiconductor Devices Second Edition E. Ajith Amerasekera Texas Instruments Inc., Dallas, USA Farid N. Najm University of Illinois at Urbana-Champaign, USA Since the successful first edition of Failure Mechanisms in Semiconductor Devic.
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Ltd, 1997
ISBN 10: 0471954829 ISBN 13: 9780471954828
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 341,36
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Añadir al carritoCondición: New. In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed. Num Pages: 358 pages, Illustrations. BIC Classification: PHFC; TGMT; TGPR; TJFD5. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 239 x 165 x 25. Weight in Grams: 676. . 1997. 2nd Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 289,85
Envío por EUR 63,69
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices 2e
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 381,52
Envío por EUR 14,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2nd sub edition. 345 pages. 9.50x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons Inc, New York, 1997
ISBN 10: 0471954829 ISBN 13: 9780471954828
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 228,67
Envío por EUR 42,79
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. Failure Mechanisms in Semiconductor Devices Second Edition E. Ajith Amerasekera Texas Instruments Inc., Dallas, USA Farid N. Najm University of Illinois at Urbana-Champaign, USA Since the successful first edition of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, semiconductor technology has become increasingly important. The high complexity of today's integrated circuits has engendered a demand for greater component reliability. Reflecting the need for guaranteed performance in consumer applications, this thoroughly updated edition includes more detailed material on reliability modelling and prediction. The book analyses the main failure mechanisms in terms of cause, effects and prevention and explains the mathematics behind reliability analysis. The authors detail methodologies for the identification of failures and describe the approaches for building reliability into semiconductor devices. Their thorough yet accessible text covers the physics of failure mechanisms from the semiconductor die itself to the packaging and interconnections. Incorporating recent advances, this comprehensive survey of semiconductor reliability will be an asset to both engineers and graduate students in the field. In this second edition, the authors identify the sources of failure mechanism in semiconductor devices, examine possible detection and elimination techniques, and determine the effectiveness of reliability devices. The references have been updated and recent advances are discussed. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
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Failure Mechanisms in Semiconductor Devices 2e
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 301,97
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2nd sub edition. 345 pages. 9.50x6.50x1.00 inches. In Stock. This item is printed on demand.
