Ea amerasekera (4 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1987
- Tapa dura
Librería: Bingo Books 2, Vancouver, WA, Estados Unidos de AmericaBingo Books 2
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 7,70
Envío por EUR 5,53Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Very Good. hardback book in very good to near fine condition,some red ink underlining,notations present.
Idioma: Inglés
Editorial: Somerset, New Jersey, U.S.A.: John Wiley & Sons Inc, 1987
- Tapa dura
Librería: Bingo Books 2, Vancouver, WA, Estados Unidos de AmericaBingo Books 2
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Usado - Muy bueno
EUR 61,56
Envío por EUR 5,53Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Near Fine. hardback book in near fine condition,name,blind stamp on first blank page.
- Tapa dura
Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 235,68
Envío por EUR 48,99Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Gebunden. Condición: New. Failure Mechanisms in Semiconductor Devices Second Edition E. Ajith Amerasekera Texas Instruments Inc., Dallas, USA Farid N. Najm University of Illinois at Urbana-Champaign, USA Since the successful first edition of Failure Mechanisms in Semiconductor Devic.
Editorial: Chichester: John Wiley & Sons, 1987
- Tapa dura
- Primera edición
Librería: CHILTON BOOKS, SUDBURY, Reino UnidoCHILTON BOOKS
Contactar con el vendedorVendedor de 3 estrellasMiembro de asociación: PBFA
Condición: Usado
EUR 30,05
Envío por EUR 46,68Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
1st ed. "All the major aspects of semiconductor device reliability receive coverage in this text." Pp. 13/205, figures and diagrams throughout, fep top corner clipped. Illustrated laminated boards. G+.
