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9780367400637 - High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography de Bowen, D.K.; Tanner, Brian K. (15 resultados)
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 96,01
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 88,29
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 94,17
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback / softback. Condición: New. New copy - Usually dispatched within 4 working days.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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High Resolution X-ray Diffractometry and Topography
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 264 pages. 9.69x6.85x0.70 inches. In Stock.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Bowen, D: High Resolution X-Ray Diffractometry And Topograph
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 76,47
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Bowen, D.K. Tanner, Brian K.The study and application of electronic materials has created an increasing demand for sophisticated and reliable techniques for examining and characterizing these materials. This comprehensive book looks at the area of x-ra.
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High Resolution X-Ray Diffractometry And Topography
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - The rapid growth in the applications of electronic materials has created an increasing demand for reliable techniques for examining and characterizing these materials. This book explores the area of x-ray diffraction and the techniques available for deployment in research, development, and production. It maps the theoretical and practical background necessary to study single crystal materials using high resolution x-ray diffraction and topography. It combines mathematical formalism with graphical explanations and hands-on advice for interpreting data, thus providing the theoretical and practical background for applying these techniques in scientific and industrial materials characterization.
